Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/41027
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorКазючиц, В. О.-
dc.date.accessioned2020-11-12T12:32:10Z-
dc.date.available2020-11-12T12:32:10Z-
dc.date.issued2020-
dc.identifier.citationКазючиц, В. О. Прогнозирование надёжности полупроводниковых приборов по значениям их информативных параметров / В. О. Казючиц // Электронные системы и технологии : сборник тезисов докладов 56-ой научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 18–20 мая 2020 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2020. – С. 542.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/41027-
dc.description.abstractВ докладе приводятся основные проблемы прогнозирования надёжности полупроводниковых приборов, приводится обоснование актуальности использования методов прогнозирования надёжности полупроводниковых приборов, а также описывается метод индивидуального прогнозирования полупроводниковых приборов по информативным параметрам.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectматериалы конференцийru_RU
dc.subjectполупроводниковые приборыru_RU
dc.subjectпрогнозирование надежностиru_RU
dc.titleПрогнозирование надёжности полупроводниковых приборов по значениям их информативных параметровru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
Appears in Collections:Электронные системы и технологии : материалы 56-й конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2020)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Kazyuchits_Prognozirovaniye.pdf455.57 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.