| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Павлов, П. Г. | - |
| dc.contributor.author | Толкун, А. В. | - |
| dc.contributor.author | Волчёк, С. А. | - |
| dc.date.accessioned | 2020-12-24T05:57:41Z | - |
| dc.date.available | 2020-12-24T05:57:41Z | - |
| dc.date.issued | 2010 | - |
| dc.identifier.citation | Павлов, П. Г. Статистическая обработка результатов измерения параметров полупроводниковых приборов / Павлов П. Г., Толкун А. В., Волчёк С. А. // Технические средства защиты информации : тезисы докладов ХVIII Белорусско-российской научно-технической конференции, Браслав, 24–28 мая 2010 г. / редкол.: Л. М. Лыньков [и др.]. – Минск : БГУИР, 2010. – С. 121–122. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/42103 | - |
| dc.description.abstract | Результаты измерения и моделирования, используемые на различных этапах изготовления и проектирования ИМС для расчета статистических оценок, проведения статистического анализа и аппроксимации, зачастую содержат ошибки и погрешности, которые могут существенно сказываться на адекватности результатов статистических исследований. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | полупроводниковые приборы | ru_RU |
| dc.subject | интегральные микросхемы | ru_RU |
| dc.subject | статистический анализ | ru_RU |
| dc.title | Статистическая обработка результатов измерения параметров полупроводниковых приборов | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | ТСЗИ 2010
|
