Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/45619
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorБогуш, В. А.-
dc.date.accessioned2021-10-13T06:17:44Z-
dc.date.available2021-10-13T06:17:44Z-
dc.date.issued2004-
dc.identifier.citationБогуш, В. А. Особенности микроструктуры и электрические характеристики тонких пленок серебра с вольфрамом, полученных химическим осаждением / Богуш В. А. // Новые технологии изготовления многокристальных модулей: материалы докладов Международной научно-технической конференции, 27 сентября – 1 октября 2004 г., Минск. – Минск, 2004. – С. 85–88.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/45619-
dc.description.abstractСовременный уровень развития электроники, компьютерной техники и, особенно, микроэлектроники характеризуется высоким уровнем технологии, расширением элементной базы и функциональности изделий, использованием большого числа различных материалов.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectпубликации ученыхru_RU
dc.subjectмикроэлектроникаru_RU
dc.subjectхимическое осаждениеru_RU
dc.subjectпленки серебраru_RU
dc.titleОсобенности микроструктуры и электрические характеристики тонких пленок серебра с вольфрамом, полученных химическим осаждениемru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
Appears in Collections:Публикации в изданиях Республики Беларусь

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Bogush_Osobennosti.pdf208.69 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.