https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/4580| Title: | Оптимизация конструктивно-технологических параметров и верификация электрических характеристик МОП-транзистора с 0,35 мкм проектными нормами |
| Other Titles: | Optimization of technological parameters and verification of electrical characteristics of the 0.35 μm MOSFET |
| Authors: | Чан, Туан Чунг Стемпицкий, В. Р. Сорока, С. А. |
| Keywords: | доклады БГУИР;интегральная микросхема;МОП-транзисторы;статистический анализ;моделирование |
| Issue Date: | 2015 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Чан, Туан Чунг Оптимизация конструктивно-технологических параметров и верификация электрических характеристик МОП-транзистора с 0,35 мкм проектными нормами / Чан Туан Чунг, В. Р. Стемпицкий, С. А. Сорока // Доклады БГУИР. - 2015. - № 3 (89). - С. 83 - 89. |
| Abstract: | Представлено описание оригинального комплексного подхода к решению задачи статистического анализа в процессе сквозного проектирования изделий микроэлектроники от этапа проектирования технологического процесса до проектирования системы. Описано тестирование данной методики на примере исследования влияния разброса технологических параметров на конструктивные и электрические характеристики 0,35 мкм МОП-транзистора, а также на характеристики аналоговых и цифровых схемотехнических решений на его основе. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/4580 |
| Appears in Collections: | №3 (89) |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Chan_Optimizatsiya.PDF | 910.32 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.