Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/47090
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorКазючиц, В. О.-
dc.date.accessioned2022-05-24T08:36:21Z-
dc.date.available2022-05-24T08:36:21Z-
dc.date.issued2022-
dc.identifier.citationКазючиц, В. О. Определение теплового сопротивления кристалл-корпус мощных полупроводниковых приборов по косвенным признакам с использованием уравнения регрессии / В. О. Казючиц // Электронные системы и технологии [Электронный ресурс] : сборник материалов 58-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 18-22 апреля 2022 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Д. В. Лихаческий [и др.]. – Минск, 2022. – С. 60–63. – Режим доступа : https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/46926.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/47090-
dc.description.abstractНа примере полевых транзисторов большой мощности типа КП744А показана возможность оценки теплового сопротивления кристалл–корпус, используя косвенные электрические параметры, подставляемые в модель прогнозирования в виде уравнения регрессии. On the example of high-power field-effect transistors of the KP744A type, the possibility of estimating of the thermal resistance of the crystal-case is shown using indirect electrical parameters substituted into the prediction model in the form of a regression equation.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectматериалы конференцийru_RU
dc.subjectполупроводниковые приборыru_RU
dc.subjectинформативные параметрыru_RU
dc.subjectтепловое сопротивление кристалл-корпусru_RU
dc.subjectуравнение регрессииru_RU
dc.subjectsemiconductor devicesru_RU
dc.subjectinformative parametersru_RU
dc.subjectthermal resistance of the crystal-caseru_RU
dc.subjectregression equationru_RU
dc.titleОпределение теплового сопротивления кристалл-корпус мощных полупроводниковых приборов по косвенным признакам с использованием уравнения регрессииru_RU
dc.title.alternativeDetermination of the thermal resistance of junction-case of powerful semiconductor devices by indirect features using regression equationru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
Appears in Collections:Электронные системы и технологии : материалы 58-й конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2022)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Kazyutchits_Opredeleniye.pdf258.8 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.