| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Ефремова, А. Ю. | - |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru_RU |
| dc.date.accessioned | 2023-05-10T07:50:23Z | - |
| dc.date.available | 2023-05-10T07:50:23Z | - |
| dc.date.issued | 2023 | - |
| dc.identifier.citation | Ефремова, А. Ю. Анализ методов исследования кристаллических структур = Control of microcontroller under the influence of electrostatic discharge / Ефремова А. Ю. // Электронные системы и технологии : сборник материалов 59-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 17–21 апреля 2023 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Д. В. Лихаческий [и др.]. – Минск, 2023. – С. 135–138. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/51248 | - |
| dc.description.abstract | В данной статье был произведен обзор методов исследования кристаллических структур. На основе проанализированной информации было установлено, что наиболее полные исследования проводятся дифракционными методами. Установлено, что наиболее используемым и оптимальным методом является рентгеноструктурный анализ, однако наиболее подходящим для полного исследования является нейтронография. Денситометрия нейтронного резонанса, дифракция электронов и эллипсометрия же являются более узкопрофильными методами анализа. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | кристаллические структуры | ru_RU |
| dc.subject | дифракционные методы | ru_RU |
| dc.subject | дифракция электронов | ru_RU |
| dc.subject | нейтронография | ru_RU |
| dc.subject | рентгеноструктурный анализ | ru_RU |
| dc.title | Анализ методов исследования кристаллических структур | ru_RU |
| dc.title.alternative | Control of microcontroller under the influence of electrostatic discharge | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| local.description.annotation | In this article was made a review for the research of methods of crystal structure research. Based on the analyzed information, it was found that the most complete studies are carried out by diffraction methods. It has been established that the most used and optimal method is X-ray diffraction analysis, but neutron diffraction is the most suitable for a complete study. Neutron resonance densitometry, electron diffraction and ellipsometry are more narrow-profile methods of
analysis. | ru_RU |
| Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 59-й конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2023)
|
