Skip navigation

Поиск


Текущие фильтры:
Начать новый поиск
Добавить фильтры:

Используйте фильтры для уточнения результатов поиска.


Результаты 1-10 из 41.
Найденные ресурсы:
Дата выпускаНазваниеАвтор(ы)
2012Сценарий компьютерных лабораторных работ по исследованию эффективности функционирования электронных систем безопасностиБоровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Бересневич, А. И.; Жагора, Н. А.; Бруй, А. А.
2013Подготовка студентов по учебной дисциплине «Интеллектуальные электронные системы безопасности»Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Цырельчук, И. Н.; Коваленко, В. А.
2012Лабораторный практикум с использованием виртуальных объектов и систем по дисциплине «Теоретические основы проектирования электронных систем безопасности»Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Бересневич, А. И.; Цырельчук, И. Н.; Матюшков, В. Е.
2012Методика прогнозирования надёжности электронных устройств для системы АРИОНБоровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Матюшков, В. Е; Цырельчук, И. Н.; Гришель, Р. П.
2013Практическая подготовка студентов по дисциплине «Надёжность технических систем» специальности «Электронные системы безопасности»Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Гришель, Р. П.; Жагора, Н. А.; Матюшков, В. Е.
2014Виртуальные лабораторные работы по исследованию надёжности и эффективности функционирования электронных систем безопасностиБоровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Сташевский, Д. А.; Епихин, А. Е.
2014Оценка эффективности функционирования электронных систем обеспечения информационной безопасностиБоровиков, С. М.; Троян, Ф. Д.; Будник, А. В.
2013Программный комплекс автоматизированной оценки надёжности электронных систем обеспечения информационной безопасностиПротасевич, С. А.; Боровиков, С. М.; Гришель, Р. П.; Шнейдеров, Е. Н.
мая-2016Об экспериментальном подтверждении времени хранения информации интегральных микросхем EEPROM после отключения питанияПлебанович, В. И.; Боровиков, С. М.; Будник, А. В.
2015Оценка надёжности электронной системы безопасности методом прямого перебора её работоспособных состоянийСасковец, Н. В.; Боровиков, С. М.; Калеев, В. А.; Троян, Ф. Д.