| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Шнейдеров, Е. Н. | - |
| dc.date.accessioned | 2016-03-22T06:53:32Z | - |
| dc.date.accessioned | 2017-07-19T11:45:46Z | - |
| dc.date.available | 2016-03-22T06:53:32Z | - |
| dc.date.available | 2017-07-19T11:45:46Z | - |
| dc.date.issued | 2014 | - |
| dc.identifier.citation | Шнейдеров, Е. Н. Получение модели деградации функционального параметра выборки ИЭТ по данным обучающего эксперимента / Е. Н. Шнейдеров // Технические средства защиты информации : тезисы докладов ХII Белорусско-российской научно-технической конференции, 28–29 мая 2014 г., Минск. – Минск : БГУИР, 2014. — С. 52 - 53. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/6172 | - |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | параметрическая надёжность | ru_RU |
| dc.subject | транзисторы Дарлингтона КТ8225 | ru_RU |
| dc.subject | полевые транзисторы КП723 | ru_RU |
| dc.subject | интегральные стабилизаторы напряжения 1264ЕН | ru_RU |
| dc.title | Получение модели деградации функционального параметра выборки ИЭТ по данным обучающего эксперимента | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| Appears in Collections: | ТСЗИ 2014
|
