Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/6288
Title: Электрический пробой тонких пленок MOSFET транзисторов
Authors: Шуринов, К. Г.
Keywords: материалы конференций;электрический пробой тонких пленок;тонкие пленки;MOSFET транзисторы
Issue Date: 2014
Publisher: БГУИР
Citation: Шуринов, К. Г. Электрический пробой тонких пленок MOSFET транзисторов / К. Г. Шуринов // Технические средства защиты информации : тезисы докладов ХII Белорусско-российской научно-технической конференции, 28–29 мая 2014 г., Минск. – Минск : БГУИР, 2014. — С. 66.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/6288
Appears in Collections:ТСЗИ 2014

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Shurinov_Elektricheskiy.PDF326.74 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.