Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/6879
Title: Модели на основе распределения Вейбулла-Гнеденко для описания деградации функциональных параметров изделий электронной техники
Authors: Боровиков, С. М.
Borovikov, S. M.
Keywords: публикации ученых;математические модели;деградации функционального параметра;электронная техника;параметрическая надежность систем;биполярные транзисторы;распределение;изделия электронной техники;распределение Вейбулла-Гнеденко
Issue Date: 2015
Publisher: Национальная академия наук Беларуси
Citation: Боровиков, С. М. Модели на основе распределения Вейбулла-Гнеденко для описания деградации функциональных параметров изделий электронной техники / С. М. Боровиков // Доклады Национальной академии наук Беларуси. - 2015. - Т. 59, № 3. - С. 109 - 115.
Abstract: Математическую модель деградации функционального параметра в виде условной плотности предлагается получать на основе трехпараметрического распределения Вейбулла-Гнеденко.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/6879
Appears in Collections:Публикации в изданиях Республики Беларусь

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
91103.pdf313.47 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.