| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Губчик, И. Н. | - |
| dc.date.accessioned | 2016-06-17T10:44:24Z | - |
| dc.date.accessioned | 2017-07-17T12:06:29Z | - |
| dc.date.available | 2016-06-17T10:44:24Z | - |
| dc.date.available | 2017-07-17T12:06:29Z | - |
| dc.date.issued | 2013 | - |
| dc.identifier.citation | Губчик, И. Н. Визуальный контроль микросхемы с использованием зекрал / И. Н. Губчик // Компьютерные системы и сети : материалы 49-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 6–10 мая 2013 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: В. А. Прытков [и др.]. – Минск, 2013. – С. 15–16. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/7603 | - |
| dc.description.abstract | В микроэлетронной промышленности в качестве соединителей между отдельной микросхемой и платой выступают металлические контакты. Для снижения производственных затрат процесс изготовления микросхем автоматизирован и обязан обеспечивать заданную точность изготовления контактов. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | калибровка | ru_RU |
| dc.subject | микросхемы | ru_RU |
| dc.title | Визуальный контроль микросхемы с использованием зекрал | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| Appears in Collections: | Компьютерные системы и сети : материалы 49-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2013)
|
