Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/7998
Title: Прогнозирование параметрической надёжности ИЭТ методом имитационных воздействий
Authors: Станюш, Иван Павлович
Keywords: авторефераты диссертаций;имитационные воздействия;параметрическая надёжность ИЭТ;имитационные факторы
Issue Date: 2016
Publisher: БГУИР
Citation: Станюш, И. П. Прогнозирование параметрической надёжности ИЭТ методом имитационных воздействий : автореф. дисс. ... магистра техники и технологии : 1-39 81 01 / И. П. Станюш ; науч. рук. С. М. Боровиков. - Минск : БГУИР, 2016. - 16 с.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/7998
Appears in Collections:1-39 81 01 Компьютерные технологии проектирования электронных систем

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Автореферат.pdf1.31 MBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.