| Issue Date | Title | Author(s) |
| 2008 | БИС преобразователя емкость–напряжение для микроэлектромеханических датчиков | Белоус, А. И.; Дрозд, С. Е.; Коннов, Е. В.; Мухуров, Н. И.; Плебанович, В. А. |
| 2007 | Влияние гамма-излучения на параметры различных транзисторных МОП-структур — элементов интегральных микросхем | Коршунов, Ф. П.; Богатырев, Ю. В.; Белоус, А. И.; Шведов, С. В.; Ластовский, С. Б.; Кульгачев, В. И. |
| 2016 | Измерение глубины нарушенного слоя на поверхности кремниевых пластин методом оже-спектроскопии | Солодуха, В. А.; Белоус, А. И. |
| 2010 | Конструктивно- технологический вариант создания БИС преобразователя емкость–напряжение для микроэлектромеханических датчиков | Белоус, А. И.; Дрозд, С. Е.; Коннов, Е. В.; Мухуров, Н. И.; Гасенкова, И. В. |
| 2006 | Образование остаточных нарушений в кремнии, имплантированном ионами углерода и бора | Плебанович, В. И.; Белоус, А. И.; Челядинский, А. Р.; Оджаев, В. Б. |
| 2012 | Определение коэффициентов чувствительности выходных параметров интегральных схем к внутренним дефектам | Белоус, А. И.; Прибыльский, А. В. |
| 2007 | Получение и физические свойства Cu(In,Ga)(S,Se)2 пленок для фотопреобразователей многокристальных модулей | Тиванов, М. С.; Зарецкая, Е. П.; Иванов, В. А.; Гременок, В. Ф.; Залесский, В. Б.; Романов, П. И.; Дроздов, Н. А.; Федотов, А. К.; Белоус, А. И.; Шведов, С. В. |
| 2011 | Радиационные эффекты в элементах субмикронных КМОП интегральных схем | Коршунов, Ф. П.; Богатырев, Ю. В.; Белоус, А. И.; Шведов, С. В.; Малышев, В. С.; Ластовский, С. Б.; Карась, В. И.; Гуринович, В. А. |
| 2013 | Эффективный способ выявления ненадежных КМОП схем | Белоус, А. И.; Прибыльский, А. В. |
