Репозиторий БГУИР: Browsing DSpace

Browsing by Author Бересневич, А. И.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
or enter first few letters:

Showing results 20 to 38 of 38 < previous

Issue Date	Title	Author(s)
2010	Оценка ошибок прогнозирования параметрической надёжности изделий электронной техники	Боровиков, С. М.; Бересневич, А. И.; Шалак, А. В.; Шнейдеров, Е. Н.
2011	Первичные измерительные преобразователи и их применение в системах безопасности. Обеспечение информационной безопасности от утечки по техническим каналам : лаборатор. практикум для студентов специальности 1-38 02 03 «Техн. обеспечение безопасности» всех форм обучения	Серенков, В. Ю.; Бересневич, А. И.; Маклюк, В. В.; Пина, А. И.
2010	Получение математических моделей функциональных параметров изделий электронной техники в задачах прогнозирования надёжности	Шнейдеров, Е. Н.; Бересневич, А. И.; Шалак, А. В.; Бруй, А. А.
2023	Прогнозирование надёжности биполярных транзисторов по постепенным отказам методом имитационного моделирования	Калита, Е. В.; Боровиков, С. М.; Бересневич, А. И.
2022	Прогнозирование надежности биполярных транзисторов большой мощности для электронных средств защиты информации длительного функционирования	Калита, Е. В.; Бересневич, А. И.; Боровиков, С. М.
2006	Прогнозирование надежности изделий электронной техники методом пороговой логики	Боровиков, С. М.; Бересневич, А. И.; Хмыль, А. А.; Емельянов, А. В.; Цырельчук, И. Н.
2008	Прогнозирование надежности изделий электронной техники на основе математической модели деградации функционального параметра	Боровиков, С. М.; Шалак, А. В.; Бересневич, А. И.; Емельянов, А. В.; Шнейдеров, Е. Н.
2010	Прогнозирование надежности изделий электронной техники с использованием деградационных моделей функциональных параметров	Бересневич, А. И.
2018	Прогнозирование параметрической надёжности биполярных транзисторов для аппаратуры связи длительного функционирования	Цырельчук, Н. И.; Боровиков, С. М.; Будник, А. В.; Бересневич, А. И.
2014	Прогнозирование постепенных отказов ИЭТ по реакции функционального параметра на имитационное воздействие	Боровиков, С. М.; Бурак, И. А.; Бересневич, А. И.; Троян, Ф. Д.
2016	Разработка программного комплекса автоматизированной оценки надёжности электронных устройств и систем : отчет о НИР (заключ.)	Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Алефиренко, В. М.; Алексеев, В. Ф.; Лихачевский, Д. В.; Бересневич, А. И.; Казючиц, В. О.
2013	Статистические закономерности между деградацией параметров изделий электроники и их изменениями в условиях действия имитационных факторов	Бересневич, А. И.
2012	Сценарий компьютерных лабораторных работ по исследованию эффективности функционирования электронных систем безопасности	Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Бересневич, А. И.; Жагора, Н. А.; Бруй, А. А.
2014	Теоретические основы проектирования электронных систем безопасности. Лабораторный практикум : пособие	Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Гришель, Р. П.; Бересневич, А. И.; Бурак, А. И.
2013	Теоретические основы проектирования электронных устройств. Лабораторный практикум : пособие	Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Бересневич, А. И.; Малышев, Т. В.; Гришель, Р. П.
2016	Ускоренные испытания биполярных транзисторов на длительную наработку	Шнейдеров, Е. Н.; Бурак, И. А.; Бересневич, А. И.; Станюш, И. П.; Хатьков, А. А.
2022	Ускоренные испытания транзисторов большой мощности на длительную наработку при решении задач прогнозирования их надежности методом имитационных воздействий	Казючиц, В. О.; Калита, Е. В.; Боровиков, С. М.; Бересневич, А. И.
2017	Экспериментальное исследование деградации изделий электронной техники	Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Плебанович, В. И.; Бересневич, А. И.; Бурак, И. А.
2019	Электрические и электронные компоненты устройств и систем : учеб.- метод. пособие	Баранов, В. В.; Хорошко, В. В.; Гременок, В. Ф.; Бересневич, А. И.; Фещенко, А. А.

Showing results 20 to 38 of 38 < previous