| Issue Date | Title | Author(s) |
| 2015 | Испытания изделий электронной техники на длительную наработку | Шнейдеров, Е. Н.; Бурак, И. А.; Бересневич, А. И. |
| 2016 | Математические модели деградации функциональных параметров изделий электронной техники | Шнейдеров, Е. Н.; Бурак, И. А.; Будник, А. В. |
| 2015 | Методика прогнозирования надёжности изделий электронной техники по постепенным отказам | Шнейдеров, Е. Н.; Бурак, И. А.; Бересневич, А. И. |
| 2013 | Модели прогнозирования эксплуатационной интенсивности отказов сложных электрорадиоизделий | Бурак, И. А.; Шнейдеров, Е. Н.; Бруй, А. А. |
| 2014 | Моделирование предыстории при прогнозировании постепенных отказов изделий электронной техники методом экстраполяции параметра | Бурак, И. А.; Боровиков, С. М.; Будник, А. В. |
| 2014 | О замене предыстории параметра изделия электронной техники при его прогнозировании методом экстраполяции | Бурак, И. А.; Гришель, Р. П.; Матюшков, В. Е. |
| 2014 | Получение практических навыков по методам прогнозирования надёжности изделий электронной техники | Шнейдеров, Е. Н.; Бурак, И. А.; Боровиков, С. М.; Гришель, Р. П. |
| 2011 | Применение системы АРИОН в ІТ-образовательных средах | Боровиков, С. М.; Цырельчук, И. Н.; Шнейдеров, Е. Н.; Бурак, И. А. |
| 2016 | Прогнозирование времени хранения информации после отключения питания для интегральных микросхем энергонезависимой памяти | Плебанович, В. И.; Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Бурак, И. А. |
| 2014 | Прогнозирование параметрической надёжности изделий электронной техники по физико-статистическим моделям деградации параметров : отчет о НИР (заключ.) | Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Бруй, А. А.; Бурак, И. А. |
| 2014 | Прогнозирование постепенных отказов ИЭТ по реакции функционального параметра на имитационное воздействие | Боровиков, С. М.; Бурак, И. А.; Бересневич, А. И.; Троян, Ф. Д. |
| 2013 | Разработка методики индивидуального прогнозирования постепенных отказов изделий электронной техники | Бурак, И. А.; Янцевич, Ю. В.; Бруй, А. А.; Боровиков, С. М. |
| 2016 | Ускоренные испытания биполярных транзисторов на длительную наработку | Шнейдеров, Е. Н.; Бурак, И. А.; Бересневич, А. И.; Станюш, И. П.; Хатьков, А. А. |
| 2017 | Экспериментальное исследование деградации изделий электронной техники | Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Плебанович, В. И.; Бересневич, А. И.; Бурак, И. А. |
| 2015 | Экспериментальное исследование деградации функциональных параметров изделий электронной техники | Шнейдеров, Е. Н.; Бурак, И. А.; Гилимович, Д. С.; Боровиков, С. М. |
