Skip navigation
Home
Browse
Browse Items by:
Issue Date
Author
Title
Subject
Communities & Collections
Lang
русский
English
Log in:
My DSpace
Receive email
updates
Edit Profile
Репозиторий БГУИР
Browsing by Author Бурак, И. А.
Jump to:
0-9
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
А
Б
В
Г
Д
Е
Ж
З
И
Й
К
Л
М
Н
О
П
Р
С
Т
У
Ф
Х
Ц
Ч
Ш
Щ
Ъ
Ы
Ь
Э
Ю
Я
or enter first few letters:
Sort by:
title
issue date
submit date
In order:
Ascending
Descending
Results/Page
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
Authors/Record:
All
1
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
Showing results 2 to 15 of 15
< previous
Issue Date
Title
Author(s)
2016
Математические модели деградации функциональных параметров изделий электронной техники
Шнейдеров, Е. Н.
;
Бурак, И. А.
;
Будник, А. В.
2015
Методика прогнозирования надёжности изделий электронной техники по постепенным отказам
Шнейдеров, Е. Н.
;
Бурак, И. А.
;
Бересневич, А. И.
2013
Модели прогнозирования эксплуатационной интенсивности отказов сложных электрорадиоизделий
Бурак, И. А.
;
Шнейдеров, Е. Н.
;
Бруй, А. А.
2014
Моделирование предыстории при прогнозировании постепенных отказов изделий электронной техники методом экстраполяции параметра
Бурак, И. А.
;
Боровиков, С. М.
;
Будник, А. В.
2014
О замене предыстории параметра изделия электронной техники при его прогнозировании методом экстраполяции
Бурак, И. А.
;
Гришель, Р. П.
;
Матюшков, В. Е.
2014
Получение практических навыков по методам прогнозирования надёжности изделий электронной техники
Шнейдеров, Е. Н.
;
Бурак, И. А.
;
Боровиков, С. М.
;
Гришель, Р. П.
2011
Применение системы АРИОН в ІТ-образовательных средах
Боровиков, С. М.
;
Цырельчук, И. Н.
;
Шнейдеров, Е. Н.
;
Бурак, И. А.
2016
Прогнозирование времени хранения информации после отключения питания для интегральных микросхем энергонезависимой памяти
Плебанович, В. И.
;
Боровиков, С. М.
;
Шнейдеров, Е. Н.
;
Бурак, И. А.
2014
Прогнозирование параметрической надёжности изделий электронной техники по физико-статистическим моделям деградации параметров : отчет о НИР (заключ.)
Боровиков, С. М.
;
Шнейдеров, Е. Н.
;
Бруй, А. А.
;
Бурак, И. А.
2014
Прогнозирование постепенных отказов ИЭТ по реакции функционального параметра на имитационное воздействие
Боровиков, С. М.
;
Бурак, И. А.
;
Бересневич, А. И.
;
Троян, Ф. Д.
2013
Разработка методики индивидуального прогнозирования постепенных отказов изделий электронной техники
Бурак, И. А.
;
Янцевич, Ю. В.
;
Бруй, А. А.
;
Боровиков, С. М.
2016
Ускоренные испытания биполярных транзисторов на длительную наработку
Шнейдеров, Е. Н.
;
Бурак, И. А.
;
Бересневич, А. И.
;
Станюш, И. П.
;
Хатьков, А. А.
2017
Экспериментальное исследование деградации изделий электронной техники
Боровиков, С. М.
;
Шнейдеров, Е. Н.
;
Плебанович, В. И.
;
Бересневич, А. И.
;
Бурак, И. А.
2015
Экспериментальное исследование деградации функциональных параметров изделий электронной техники
Шнейдеров, Е. Н.
;
Бурак, И. А.
;
Гилимович, Д. С.
;
Боровиков, С. М.