| Issue Date | Title | Author(s) |
| 2007 | Влияние режимов формирования полиимидной пленки на электрофизические характеристики многоуровневой металлизации субмикронных БИС | Сенько, С. Ф.; Емельянов, А. В. |
| 2012 | Информационно-параметрические методы совершенствования технологии производства субмикронных интегральных микросхем с применением тестовых структур | Емельянов, А. В. |
| 2012 | Информационно-параметрические методы совершенствования технологии производства субмикронных интегральных микросхем с применением тестовых структур | Емельянов, А. В. |
| 2015 | Конденсатор для интегральной микросхемы | Хмыль, А. А.; Емельянов, А. В.; Алиева, Н. В.; Емельянов, В. А.; Трусов, В. Л.; Шикуло, В. Е.; Сенько, С. Ф. |
| 2013 | Конденсатор для интегральных микросхем | Хмыль, А. А.; Емельянов, А. В.; Алиева, Н. В.; Емельянов, В. А.; Трусов, В. Л.; Шикуло, В. Е.; Сенько, С. Ф. |
| 2006 | Прогнозирование надежности изделий электронной техники методом пороговой логики | Боровиков, С. М.; Бересневич, А. И.; Хмыль, А. А.; Емельянов, А. В.; Цырельчук, И. Н. |
| 2008 | Прогнозирование надежности изделий электронной техники на основе математической модели деградации функционального параметра | Боровиков, С. М.; Шалак, А. В.; Бересневич, А. И.; Емельянов, А. В.; Шнейдеров, Е. Н. |
| 2015 | Способ изготовления конденсатора для интегральной микросхемы | Хмыль, А. А.; Емельянов, А. В.; Алиева, Н. В.; Емельянов, В. А.; Трусов, В. Л.; Шикуло, В. Е.; Сенько, С. Ф. |
