Skip navigation

Browsing by Author Казючиц, В. О.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
 
Showing results 27 to 46 of 47 < previous   next >
Issue DateTitleAuthor(s)
2020Поиск информативных параметров для прогнозирования индивидуальной надёжности транзисторов большой мощности и отбора высоконадёжных экземпляровКазючиц, В. О.
2020Поиск информативных параметров для прогнозирования индивидуальной надежности транзисторов большой мощностиКазючиц, В. О.; Боровиков, С. М.
2021Поиск информативных параметров как одна из задач процедуры индивидуального прогнозирования надежности полупроводниковых приборовКазючиц, В. О.; Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.
2023Прогнозирование класса надёжности изделий электронной техники методом преобразования информативных параметров в дискретный кодКазючиц, В. О.; Боровиков, С. М.; Батура, М. П.; Шнейдеров, Е. Н.
2020Прогнозирование надёжности полупроводниковых приборов по значениям их информативных параметровКазючиц, В. О.
2021Прогнозирование надежности биполярных транзисторов для электронных устройств систем телекоммуникацийКазючиц, В. О.; Будник, А. В.; Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.
2018Программные модули обработки больших объёмов данных при статистическом прогнозировании надёжности полупроводниковых приборовЦырельчук, Н. И.; Боровиков, С. М.; Казючиц, В. О.; Хорошко, В. В.
2018Программные модули прогнозирования надёжности изделий электронной техники с использованием автоматизированной системы «АРИОН-плюс»Казючиц, В. О.
2018Программные модули прогнозирования надёжности изделий электронной техники с использованием автоматизированной системы «АРИОН-плюс»Казючиц, В. О.
2017Программный комплекс автоматизированной оценки надежности электронных устройствКазючиц, В. О.
2023Разработка приложений на языке Java. Лабораторный практикум : пособиеШнейдеров, Е. Н.; Писарчик, А. Ю.; Казючиц, В. О.
2016Разработка программного комплекса автоматизированной оценки надёжности электронных устройств и систем : отчет о НИР (заключ.)Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Алефиренко, В. М.; Алексеев, В. Ф.; Лихачевский, Д. В.; Бересневич, А. И.; Казючиц, В. О.
2016Система автоматизированной оценки надёжности электронных устройств «АРИОН–плюс»Боровиков, С. М.; Цырельчук, И. Н.; Лихачевский, Д. В.; Казючиц, В. О.
2016Система АРИОН-плюс для автоматизированного расчёта надёжности электронных устройств защиты информацииБоровиков, С. М.; Казючиц, В. О.; Цырельчук, И. Н.; Дик, С. К.; Лихачевский, Д. В.
2020Технологии Big Data при анализе результатов ускоренных испытаний полупроводниковых приборов на надёжностьКазючиц, В. О.; Боровиков, С. М.
2022Ускоренные испытания биполярных транзисторов большой мощности на длительную наработкуКалита, Е. В.; Казючиц, В. О.
2022Ускоренные испытания транзисторов большой мощности на длительную наработку при решении задач прогнозирования их надежности методом имитационных воздействийКазючиц, В. О.; Калита, Е. В.; Боровиков, С. М.; Бересневич, А. И.
2016Учёт циклического режима работы элементов при расчёте надёжности электронных устройств защиты информацииКазючиц, В. О.; Будник, А. В.; Гришель, Р. П.
2022Эвристическая модель прогнозирования работоспособности полупроводниковых приборовКазючиц, В. О.; Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.
2019Эвристический подход к процедуре прогнозирования надёжности изделий электроники в рамках образовательного процесса различных форм обученияКазючиц, В. О.