Skip navigation

Browsing by Author Мельников, С. Н.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
 
Showing results 23 to 39 of 39 < previous 
Issue DateTitleAuthor(s)
2016Разработка и исследование ионно-плазменных методов формирования ориентированных слоев металлов для каталитического роста графеновых структур : отчет о НИР (заключ.)Голосов, Д. А.; Завадский, С. М.; Мельников, С. Н.
2016Разработка методов комбинированного магнетронного плазмохимического нанесения DLC слоев для просветления ИК германиевой оптики, метода нанесения наноразмерных пленок сложных оксидов со структурой перовскита для получения электродов сенсоров и топливных элементов : отчет о НИР (заключ.)Достанко, А. П.; Голосов, Д. А.; Завадский, С. М.; Гурский, Л. И.; Мельников, С. Н.
2014Разработка методов, алгоритмов и программных средств для прогнозирования профиля покрытий при магнетронном напылении : отчет о НИР (заключ.)Лемзиков, А. В.; Мельников, С. Н.
2016Разработка научных основ и технологий ионно-плазменного формирования тонких пленок проводящих оксидов для использования в качестве электродов ячеек сегнетоэлектрических элементов памяти : отчет о НИР (заключ.)Голосов, Д. А.; Завадский, С. М.; Мельников, С. Н.
2012Разработка новых многокомпонентных комбинированных коррозионно-износостойких покрытий для защиты металлических изделий от абразивного воздействия в химически агрессивных средах : отчет о НИР (заключ.)Марковник, Д. В.; Кундас, С. П.; Мельников, С. Н.; Лемзиков, А. В.
2018Сегнетоэлектрические свойства пленок танталата стронция-висмута, нанесенных методом ВЧ магнетронного распыленияГолосов, Д. А.; Мельников, С. Н.; Завадский, С. М.; Колос, В. В.; Поплевка, Е. А.; Окоджи, Д. Э.; Жукович, Ю. А.
2014Система контроля распределения скорости осаждения материала и плотности тока заряженных частиц при ионно-плазменном распыленииДостанко, А. П.; Мельников, С. Н.; Голосов, Д. А.; Завадский, С. М.
2021Структурно-фазовые характеристики пленок оксида ванадияНгуен, Т. Д.; Занько, А. И.; Голосов, Д. А.; Завадский, С. М.; Мельников, С. Н.; Колос, В. В.; То, Т. К.
2018Технологии субмикронных структур микроэлектроникиДостанко, А. П.; Бордусов, С. В.; Голосов, Д. А.; Завадский, С. М.; Колос, В. В.; Купо, А. Н.; Ланин, В. Л.; Лушакова, М. С.; Мадвейко, С. И.; Мельников, С. Н.; Петлицкий, А. Н.; Петухов, И. Б.; Солодуха, В. А.; Телеш, Е. В.
2016Технологические комплексы интегрированных процессов производства изделий электроникиДостанко, А. П.; Аваков, С. М.; Агеев, О. А.; Батура, М. П.; Бордусов, С. В.; Джуплин, В. Н.; Завадский, С. М.; Клим, О. В.; Ланин, В. Л.; Мадвейко, С. И.; Голосов, Д. А.; Мельников, С. Н.; Петухов, И. Б.; Ретюхин, Г. Е.; Русецкий, А. М.; Титко, Д. С.; Томаль, В. С; Трапашко, Г. А.; Чередниченко, С. Б; Школык, Д. И.
2016Трибологические характеристики покрытий TiN, полученные методом реак-тивного магнетронного распыления при пониженном давленииЕрмоленко, М. В.; Завадский, С. М.; Голосов, Д. А.; Мельников, С. Н.; Замбург, Е. Г.
2021Формирование и исследование характеристик терморезистивных структур на основе пленок оксида ванадияНгуен, Т. Д.; Занько, А. И.; Голосов, Д. А.; Завадский, С. М.; Мельников, С. Н.; Колос, В. В.; Толочко, Н. К.
2016Формирование пленок нитрида титана методом реактивного магнетронного распыления при пониженном давленииДостанко, А. П.; Голосов, Д. А.; Завадский, С. М.; Мельников, С. Н.; Окоджи, Д. Э.; Котинго, Д. Д.; Рубан, Г. М.
2017Формирование пленок оксида гафния методом реактивного магнетронного распыленияГолосов, Д. А.; Завадский, С. М.; Мельников, С. Н.; Вилья, Н.
2020Формирование пленок оксида тантала на подложках диаметром 200 миллиметровВилья, Н.; Голосов, Д. А.; Мельников, С. Н.; Нгуен, Т. Д.; Голосов, А. Д.
2017Формирование пленок оксида циркония методом реактивного магнетронного распыленияВилья, Н.; Голосов, Д. А.; Завадский, С. М.; Мельников, С. Н.; Окоджи, Д. Э.
2020Электрофизические свойства пленок оксида ванадия, нанесенных методом реактивного магнетронного распыленияНгуен, Т. Д.; Занько, А. И.; Голосов, Д. А.; Завадский, С. М.; Мельников, С. Н.; Колос, В. В.