Showing results 4 to 22 of 22
< previous
| Issue Date | Title | Author(s) |
| 2014 | Диэлектрические характеристики конденсаторных структур на основе пленок титаната стронция, сформированных золь-гель методом | Сохраби Анараки, Х.; Гапоненко, Н. В.; Руденко, М. В.; Завадский, С. М.; Голосов, Д. А.; Гук, А. Ф.; Колос, В. В.; Петлицкий, А. Н.; Турцевич, А. С. |
| 2013 | Золь-гель синтез пленок титаната стронция и перспективы их применения для изготовления элементов электронной техники | Сохраби Анараки, Х.; Гапоненко, Н. В.; Завадский, С. М.; Руденко, М. В.; Голосов, Д. А.; Колос, В. В.; Петлицкий, А. Н.; Турцевич, А. С.; Колосницын, Б. С. |
| 2020 | Инновационные технологии и оборудование субмикронной электроники | Достанко, А. П.; Аваков, С. М.; Голосов, Д. А.; Емельянов, В. В.; Завадский, С. М.; Колос, В. В.; Ланин, В. Л.; Мадвейко, С. И.; Мельников, С. Н.; Никитюк, Ю. В.; Петлицкий, А. Н.; Петухов, И. Б.; Пилипенко, В. А.; Плебанович, В. И.; Солодуха, В. А.; Соколов, С. И.; Телеш, Е. В.; Шершнев, Е. Б. |
| 2016 | Использование четырехзондового наноманипулятора для измерения вольтамперной характеристики биполярного N-P-N -транзистора | Пилипенко, В. А.; Солодуха, В. А.; Петлицкий, А. Н.; Шведов, С. В.; Панфиленко, А. К.; Петлицкая, Т. В.; Филипеня, В. А.; Жигулин, Д. В. |
| 2020 | Конденсаторные структуры на основе пленок титаната бария, сформированных золь-гель методом | Холов, П. А.; Гапоненко, Н. В.; Шейдакова, К. В.; Крымский, В. И.; Филипеня, В. А.; Петлицкая, Т. В.; Колос, В. В.; Петлицкий, А. Н.; Петлицкий, А. Н. |
| 2021 | Контактно-барьерные структуры субмикронной электроники | Достанко, А. П.; Богуш, Н. В.; Бордусов, С. В.; Василевич, В. П.; Гульпа, Д. В.; Збышинская, М. Е.; Ковальчук, Н. С.; Кузьмар, И. И.; Кушнер, Л. К.; Ланин, В. Л.; Мадвейко, С. И.; Петлицкий, А. Н.; Петухов, И. Б.; Соловьев, Я. А.; Телеш, Е. В.; Тихон, О. И. |
| 2018 | М – фактор как критерий качества технологического процесса изготовления полупроводниковых структур | Солодуха, В. А.; Петлицкий, А. Н.; Петлицкая, Т. В.; Пилипенко, В. А.; Ковальчук, Н. С. |
| 2019 | Метод контроля свойств технологических жидкостей | Волчёк, C. А.; Гранько, С. В.; Завацкий, С. А.; Петрович, В. А.; Серенков, В. Ю.; Петлицкий, А. Н.; Zavatski, S. A. |
| 2018 | Оперативный анализ загрязнений кремниевых пластин рекомбинационно-активными примесями в производстве интегральных микросхем | Солодуха, В. А.; Шведов, С. В.; Чигирь, Г. Г.; Петлицкий, А. Н.; Пилипенко, В. А.; Ковальчук, Н. С.; Петлицкая, Т. В.; Филипеня, В. А.; Солодуха, В. А. |
| 2018 | Оптические характеристики пленок титаната стронция, полученных золь-гель методом | Стаськов, Н. И.; Сотский, А. Б.; Сотская, Л. И.; Ивашкевич, И. В.; Кулак, А. И.; Гапоненко, Н. В.; Руденко, М. В.; Петлицкий, А. Н. |
| 2018 | Современные методы и оборудование для исследования полупроводниковых структур микро- и наноэлектроники в центре коллективного пользования "Белмикроанализ" ОАО"ИНТЕГРАЛ" | Солодуха, В. А.; Петлицкий, А. Н.; Петлицкая, Т. В.; Пилипенко, В. А.; Ковальчук, Н. С. |
| 2023 | Соединение пластин кремния стеклообразным нанокомпозитом, формируемым золь-гель методом | Гайшун, В. Е.; Косенок, Я. А.; Васькевич, В. В.; Тюленкова, О. И.; Борисенко, В. Е.; Ковальчук, Н. С.; Петлицкий, А. Н.; Чумак, С. В. |
| 2015 | Солнечные элементы с CuxInxZn2-2xSe2 поглощающим слоем | Хорошко, В. В.; Цырельчук, И. Н.; Гременок, В. Ф.; Петлицкий, А. Н. |
| 2022 | Специальные материалы и субмикронные компоненты. Лабораторный практикум : пособие | Соловьёв, Я. А.; Шахлевич, Г. М.; Петлицкий, А. Н. |
| 2018 | Технологии субмикронных структур микроэлектроники | Достанко, А. П.; Бордусов, С. В.; Голосов, Д. А.; Завадский, С. М.; Колос, В. В.; Купо, А. Н.; Ланин, В. Л.; Лушакова, М. С.; Мадвейко, С. И.; Мельников, С. Н.; Петлицкий, А. Н.; Петухов, И. Б.; Солодуха, В. А.; Телеш, Е. В. |
| 2019 | Фемтосекундное лазерное скрайбирование сапфира на длинах волн 1040 и 520 нм | Шуленкова, В. А.; Луценко, Е. В.; Данильчик, А. В.; Соловьёв, Я. А.; Петлицкий, А. Н.; Киросирова, М. В. |
| 2022 | Экспресс-контроль элементов интегральных микросхем с использованием растровой электронной микроскопии и режима наведенного тока | Петлицкий, А. Н.; Жигулин, Д. А.; Ланин, В. Л. |
| 2020 | Экспресс-контроль элементов интегральных схем с использованием растровой электронной микроскопии и режима наведенного тока | Петлицкий, А. Н.; Жигулин, Д. В.; Ланин, В. Л. |
| 2018 | Экспрессный контроль надежности подзатворного диэлектрика интегральных микросхем по величине пробивного напряжения при разных скоростях развертки | Солодуха, В. А.; Шведов, С. В.; Ковальчук, Н. С.; Чигирь, Г. Г.; Петлицкий, А. Н. |
