Skip navigation

Browsing by Author Петлицкий, А. Н.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
 
Showing results 14 to 22 of 22 < previous 
Issue DateTitleAuthor(s)
2018Современные методы и оборудование для исследования полупроводниковых структур микро- и наноэлектроники в центре коллективного пользования "Белмикроанализ" ОАО"ИНТЕГРАЛ"Солодуха, В. А.; Петлицкий, А. Н.; Петлицкая, Т. В.; Пилипенко, В. А.; Ковальчук, Н. С.
2023Соединение пластин кремния стеклообразным нанокомпозитом, формируемым золь-гель методомГайшун, В. Е.; Косенок, Я. А.; Васькевич, В. В.; Тюленкова, О. И.; Борисенко, В. Е.; Ковальчук, Н. С.; Петлицкий, А. Н.; Чумак, С. В.
2015Солнечные элементы с CuxInxZn2-2xSe2 поглощающим слоемХорошко, В. В.; Цырельчук, И. Н.; Гременок, В. Ф.; Петлицкий, А. Н.
2022Специальные материалы и субмикронные компоненты. Лабораторный практикум : пособиеСоловьёв, Я. А.; Шахлевич, Г. М.; Петлицкий, А. Н.
2018Технологии субмикронных структур микроэлектроникиДостанко, А. П.; Бордусов, С. В.; Голосов, Д. А.; Завадский, С. М.; Колос, В. В.; Купо, А. Н.; Ланин, В. Л.; Лушакова, М. С.; Мадвейко, С. И.; Мельников, С. Н.; Петлицкий, А. Н.; Петухов, И. Б.; Солодуха, В. А.; Телеш, Е. В.
2019Фемтосекундное лазерное скрайбирование сапфира на длинах волн 1040 и 520 нмШуленкова, В. А.; Луценко, Е. В.; Данильчик, А. В.; Соловьёв, Я. А.; Петлицкий, А. Н.; Киросирова, М. В.
2022Экспресс-контроль элементов интегральных микросхем с использованием растровой электронной микроскопии и режима наведенного токаПетлицкий, А. Н.; Жигулин, Д. А.; Ланин, В. Л.
2020Экспресс-контроль элементов интегральных схем с использованием растровой электронной микроскопии и режима наведенного токаПетлицкий, А. Н.; Жигулин, Д. В.; Ланин, В. Л.
2018Экспрессный контроль надежности подзатворного диэлектрика интегральных микросхем по величине пробивного напряжения при разных скоростях разверткиСолодуха, В. А.; Шведов, С. В.; Ковальчук, Н. С.; Чигирь, Г. Г.; Петлицкий, А. Н.