Репозиторий БГУИР: Browsing DSpace

Browsing by Author Сенько, С. Ф.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
or enter first few letters:

Showing results 1 to 6 of 6

Issue Date	Title	Author(s)
2007	Влияние режимов формирования полиимидной пленки на электрофизические характеристики многоуровневой металлизации субмикронных БИС	Сенько, С. Ф.; Емельянов, А. В.
2018	Количественный контроль топографических дефектов полупроводниковых пластин кремния	Сенько, С. Ф.; Сенько, А. С.; Зеленин, В. А.
2015	Конденсатор для интегральной микросхемы	Хмыль, А. А.; Емельянов, А. В.; Алиева, Н. В.; Емельянов, В. А.; Трусов, В. Л.; Шикуло, В. Е.; Сенько, С. Ф.
2013	Конденсатор для интегральных микросхем	Хмыль, А. А.; Емельянов, А. В.; Алиева, Н. В.; Емельянов, В. А.; Трусов, В. Л.; Шикуло, В. Е.; Сенько, С. Ф.
2015	Способ изготовления конденсатора для интегральной микросхемы	Хмыль, А. А.; Емельянов, А. В.; Алиева, Н. В.; Емельянов, В. А.; Трусов, В. Л.; Шикуло, В. Е.; Сенько, С. Ф.
2003	Цветовая диагностика топографических дефектов	Сенько, С. Ф.; Сенько, А. С.

Showing results 1 to 6 of 6