Skip navigation

Browsing by Author Солодуха, В. А.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
 
Showing results 11 to 28 of 28 < previous 
Issue DateTitleAuthor(s)
2016Измерение глубины нарушенного слоя на поверхности кремниевых пластин методом оже-спектроскопииСолодуха, В. А.; Белоус, А. И.
2020Инновационные технологии и оборудование субмикронной электроникиДостанко, А. П.; Аваков, С. М.; Голосов, Д. А.; Емельянов, В. В.; Завадский, С. М.; Колос, В. В.; Ланин, В. Л.; Мадвейко, С. И.; Мельников, С. Н.; Никитюк, Ю. В.; Петлицкий, А. Н.; Петухов, И. Б.; Пилипенко, В. А.; Плебанович, В. И.; Солодуха, В. А.; Соколов, С. И.; Телеш, Е. В.; Шершнев, Е. Б.
2014Интегрированные пленочные системы в твердотельных структурах диоидов ШотткиСолодуха, В. А.; Баранов, В. В.; Комаров, Ф. Ф.; Мильчанин, О. В.; Сарычев, О. Э.; Соловьев, Я. А.; Турцевич, А. С.; Фоменко, Н. К.
2016Использование четырехзондового наноманипулятора для измерения вольтамперной характеристики биполярного N-P-N -транзистораПилипенко, В. А.; Солодуха, В. А.; Петлицкий, А. Н.; Шведов, С. В.; Панфиленко, А. К.; Петлицкая, Т. В.; Филипеня, В. А.; Жигулин, Д. В.
2022Исследования электрофизических свойств тонких подзатворных диэлектриков, полученных методом быстрой термообработкиКовальчук, Н. С.; Омельченко, А. А.; Пилипенко, В. А.; Солодуха, В. А.; Демидович, С. А.; Колос, В. В.; Филипеня, В. А.; Шестовский, Д. В.
2018М – фактор как критерий качества технологического процесса изготовления полупроводниковых структурСолодуха, В. А.; Петлицкий, А. Н.; Петлицкая, Т. В.; Пилипенко, В. А.; Ковальчук, Н. С.
2018Оперативный анализ загрязнений кремниевых пластин рекомбинационно-активными примесями в производстве интегральных микросхемСолодуха, В. А.; Шведов, С. В.; Чигирь, Г. Г.; Петлицкий, А. Н.; Пилипенко, В. А.; Ковальчук, Н. С.; Петлицкая, Т. В.; Филипеня, В. А.; Солодуха, В. А.
2016Оптические межсоединения между кремниевыми кристаллами на основе лавинных светоизлучающих диодов из наноструктурированного кремнияЛазарук, С. К.; Лешок, А. А.; Долбик, А. В.; Лабунов, В. А.; Солодуха, В. А.; Шведов, С. В.
2017Повышение надежности мощных транзисторов при циклическом воздействии температурыВолкенштейн, С. С.; Солодуха, В. А.; Соловьев, Я. А.; Керенцев, А. Ф.; Хмыль, А. А.
2015Повышение устойчивости структур диодов Шоттки с охранным кольцом к разрядам статического электричестваСолодуха, В. А.; Ланин, В. Л.; Соловьев, Я. А.
2015Прогнозирование максимально допустимых потенциалов разрядов статического электричества и их влияние на диоды ШотткиСолодуха, В. А.; Ланин, В. Л.; Соловьев, Я. А.
2018Режимы быстрой термообработки системы Рt-Si для формирования силицида платиныСолодуха, В. А.; Пилипенко, В. А.; Горушко, В. А.
2019Роботизированная установка быстрой термической обработки для создания изделий электронной техникиСолодуха, В. А.; Пилипенко, В. А.; Яковлев, В. П.
2018Современные методы и оборудование для исследования полупроводниковых структур микро- и наноэлектроники в центре коллективного пользования "Белмикроанализ" ОАО"ИНТЕГРАЛ"Солодуха, В. А.; Петлицкий, А. Н.; Петлицкая, Т. В.; Пилипенко, В. А.; Ковальчук, Н. С.
2018Технологии субмикронных структур микроэлектроникиДостанко, А. П.; Бордусов, С. В.; Голосов, Д. А.; Завадский, С. М.; Колос, В. В.; Купо, А. Н.; Ланин, В. Л.; Лушакова, М. С.; Мадвейко, С. И.; Мельников, С. Н.; Петлицкий, А. Н.; Петухов, И. Б.; Солодуха, В. А.; Телеш, Е. В.
2021Формирование подзатворного диэлектрика нанометровой толщины методом быстрой термообработкиКовальчук, Н. С.; Омельченко, А. А.; Пилипенко, В. А.; Солодуха, В. А.; Шестовский, Д. В.
2018Экспрессный контроль надежности подзатворного диэлектрика интегральных микросхем по величине пробивного напряжения при разных скоростях разверткиСолодуха, В. А.; Шведов, С. В.; Ковальчук, Н. С.; Чигирь, Г. Г.; Петлицкий, А. Н.
2020Электронномикроскопические исследования системы Pt-Si при ее быстрой термообработкеСолодуха, В. А.; Пилипенко, В. А.; Комаров, Ф. Ф.; Горушко, В. А.