Skip navigation

Browsing by Author Телеш, Е. В.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
 
Showing results 36 to 43 of 43 < previous 
Issue DateTitleAuthor(s)
2018Технологии субмикронных структур микроэлектроникиДостанко, А. П.; Бордусов, С. В.; Голосов, Д. А.; Завадский, С. М.; Колос, В. В.; Купо, А. Н.; Ланин, В. Л.; Лушакова, М. С.; Мадвейко, С. И.; Мельников, С. Н.; Петлицкий, А. Н.; Петухов, И. Б.; Солодуха, В. А.; Телеш, Е. В.
2019Технологические модули и устройства программно-управляемого оборудования для производства изделий электроники. Лабораторный практикум : пособиеТелеш, Е. В.; Соловьев, Я. А.
2020Физико-технические основы разработки технологических модулей электронно-оптических систем. Лабораторный практикум. В 2 ч. Ч. 1 : Физико-технические основы процессов электрофизической обработки материалов : пособиеБордусов, С. В.; Лушакова, М. С.; Мадвейко, С. И.; Костюкевич, А. А.; Телеш, Е. В.
2016Физико-химические основы микро- и наноэлектроники. Лабораторный практикум : пособиеДостанко, А. П.; Телеш, Е. В.; Холенков, В. Ф.; Вашуров, А. Ю.
2010Формирование структур PbZr0,54Ti0,46O3 в треках быстрых тяжелых ионовПетров, А. В.; Гурский, Л. И.; Каланда, Н. А.; Телеш, Е. В.; Минин, К. А.
2015Формирование термостойких контактов для приборов с барьером Шоттки на арсениде галлияТелеш, Е. В.
2020Частотные характеристики тонкопленочных структур Ni/HfO2/NiТелеш, Е. В.; Зырянова, А. С.
2011Электрофизические процессы и оборудование в технологии микро– и наноэлектроникиДостанко, А. П.; Русецкий, А. М.; Бордусов, С. В.; Ланин, В. Л.; Ануфриев, Л. П.; Карпович, С. В.; Жарский, В. В.; Плебанович, В. И.; Адамович, А. Л.; Грозберг, Ю. А.; Голосов, Д. А.; Завадский, С. М.; Соловьев, Я. А.; Дайняк, И. В.; Ковальчук, Н. С.; Петухов, И. Б.; Телеш, Е. В.; Мадвейко, С. И.