Skip navigation

Browsing by Author Шнейдеров, Е. Н.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
 
Showing results 44 to 63 of 104 < previous   next >
Issue DateTitleAuthor(s)
2015Надёжность технических систем. Лабораторный практикум : пособиеБоровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Гришель, Р. П.; Фролов, А. В.
2013Научные основы прогнозирования параметрической надёжности выборок изделий электронной техникиШнейдеров, Е. Н.
2022Некоторые подходы к обработке больших объёмов экспериментальных данных, получаемых при испытании выборок полупроводниковых приборовКазючиц, В. О.; Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Жданович, В. П.
2010Обеспечение показателей безотказности электронных устройств в системе АРИОНБоровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Цырельчук, И. Н.; Бруй, А. А.
2022Опыт и перспективы развития дистанционного образования в БГУИРКривенков, А. В.; Шнейдеров, Е. Н.; Терешкова, А. С.; Селиверстов, Ф. Ф.
2022Организация информационно-компьютерных систем и сетей. Курсовое проектирование : пособиеШнейдеров, Е. Н.; Фещенко, А. А.; Боровиков, С. М.
2022Организация образовательного процесса с использованием дистанционных образовательных технологий в БГУИРКривенков, А. В.; Селивёрстов, Ф. Ф.; Терешкова, А. С.; Шнейдеров, Е. Н.
2010Оценка ошибок прогнозирования параметрической надёжности изделий электронной техникиБоровиков, С. М.; Бересневич, А. И.; Шалак, А. В.; Шнейдеров, Е. Н.
2008Оценка эффективности метода пороговой логики с помощью моделирования вычислительного эксперимента на ЭВМШнейдеров, Е. Н.; Боровиков, С. М.
2014Оценка эффективности функционирования электронных систем обеспечения информационной безопасностиБоровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Сташевский, Д. А.; Матюшков, В. Е.
2013Подготовка студентов по учебной дисциплине «Интеллектуальные электронные системы безопасности»Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Цырельчук, И. Н.; Коваленко, В. А.
2021Поиск информативных параметров как одна из задач процедуры индивидуального прогнозирования надежности полупроводниковых приборовКазючиц, В. О.; Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.
2010Получение математических моделей функциональных параметров изделий электронной техники в задачах прогнозирования надёжностиШнейдеров, Е. Н.; Бересневич, А. И.; Шалак, А. В.; Бруй, А. А.
2014Получение модели деградации функционального параметра выборки ИЭТ по данным обучающего экспериментаШнейдеров, Е. Н.
2014Получение практических навыков по методам прогнозирования надёжности изделий электронной техникиШнейдеров, Е. Н.; Бурак, И. А.; Боровиков, С. М.; Гришель, Р. П.
2013Получение физико-статистической модели деградации параметра изделий электронной техникиШнейдеров, Е. Н.
2013Практическая подготовка студентов по дисциплине «Надёжность технических систем» специальности «Электронные системы безопасности»Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Гришель, Р. П.; Жагора, Н. А.; Матюшков, В. Е.
2011Применение математических методов в проектировании электронных устройств : метод. пособие по дисциплинам «Основы математ. теории планирования эксперимента» и «Математ. методы в проектировании техн. изделий» для студентов специальности «Техн. обеспечение безопасности» заоч. формы обученияБоровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Малышева, Т. В.; Гришель, Р. П.
2011Применение системы АРИОН в ІТ-образовательных средахБоровиков, С. М.; Цырельчук, И. Н.; Шнейдеров, Е. Н.; Бурак, И. А.
2016Прогнозирование времени хранения информации после отключения питания для интегральных микросхем энергонезависимой памятиПлебанович, В. И.; Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Бурак, И. А.