Skip navigation

Browsing by Author Шнейдеров, Е. Н.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
 
Showing results 54 to 73 of 104 < previous   next >
Issue DateTitleAuthor(s)
2013Подготовка студентов по учебной дисциплине «Интеллектуальные электронные системы безопасности»Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Цырельчук, И. Н.; Коваленко, В. А.
2021Поиск информативных параметров как одна из задач процедуры индивидуального прогнозирования надежности полупроводниковых приборовКазючиц, В. О.; Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.
2010Получение математических моделей функциональных параметров изделий электронной техники в задачах прогнозирования надёжностиШнейдеров, Е. Н.; Бересневич, А. И.; Шалак, А. В.; Бруй, А. А.
2014Получение модели деградации функционального параметра выборки ИЭТ по данным обучающего экспериментаШнейдеров, Е. Н.
2014Получение практических навыков по методам прогнозирования надёжности изделий электронной техникиШнейдеров, Е. Н.; Бурак, И. А.; Боровиков, С. М.; Гришель, Р. П.
2013Получение физико-статистической модели деградации параметра изделий электронной техникиШнейдеров, Е. Н.
2013Практическая подготовка студентов по дисциплине «Надёжность технических систем» специальности «Электронные системы безопасности»Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Гришель, Р. П.; Жагора, Н. А.; Матюшков, В. Е.
2011Применение математических методов в проектировании электронных устройств : метод. пособие по дисциплинам «Основы математ. теории планирования эксперимента» и «Математ. методы в проектировании техн. изделий» для студентов специальности «Техн. обеспечение безопасности» заоч. формы обученияБоровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Малышева, Т. В.; Гришель, Р. П.
2011Применение системы АРИОН в ІТ-образовательных средахБоровиков, С. М.; Цырельчук, И. Н.; Шнейдеров, Е. Н.; Бурак, И. А.
2016Прогнозирование времени хранения информации после отключения питания для интегральных микросхем энергонезависимой памятиПлебанович, В. И.; Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Бурак, И. А.
2023Прогнозирование класса надёжности изделий электронной техники методом преобразования информативных параметров в дискретный кодКазючиц, В. О.; Боровиков, С. М.; Батура, М. П.; Шнейдеров, Е. Н.
2018Прогнозирование надёжности полупроводниковых приборов большой мощности по моделям деградации их функциональных параметровШнейдеров, Е. Н.
2013Прогнозирование надёжности сложных электронных систем методом анализа дерева отказовЕпихин, А. Е.; Шнейдеров, Е. Н.; Протасевич, С. А.
2021Прогнозирование надежности биполярных транзисторов для электронных устройств систем телекоммуникацийКазючиц, В. О.; Будник, А. В.; Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.
2014Прогнозирование надежности выборок ИЭТ по числовым характеристикам функционального параметра в начальный момент времениБоровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Гришель, Р. П.
2008Прогнозирование надежности изделий электронной техники на основе математической модели деградации функционального параметраБоровиков, С. М.; Шалак, А. В.; Бересневич, А. И.; Емельянов, А. В.; Шнейдеров, Е. Н.
2014Прогнозирование параметрической надёжности изделий электронной техники по физико-статистическим моделям деградации параметров : отчет о НИР (заключ.)Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Бруй, А. А.; Бурак, И. А.
2011Прогнозирование эксплуатационной надежности элементов электронной аппаратуры с использованием справочника RDF 2000 (Франция)Бунцевич, Р. Л.; Протасевич, С. А.; Шнейдеров, Е. Н.
2020Прогнозирование электрических характеристик фотоэлектрических преобразователей на основе поликристаллического кремния по моделям их деградацииХорошко, В. В.; Гременок, В. Ф.; Шнейдеров, Е. Н.; Терешкова, А. С.; Аксенов, О. А.; Бруй, Н. М.
2021Прогнозирование энергетических характеристик фотоэлектрических станций методами обучения деревьев решенийХорошко, В. В.; Аксенов, О. Д.; Осмоловская, Т. Н.; Шнейдеров, Е. Н.; Бруй, Н. М.