Skip navigation

Browsing by Author Shneiderov, E. N.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
 
Showing results 2 to 10 of 10 < previous 
Issue DateTitleAuthor(s)
2016Models describing the degradation of functional parameters of electronic devices based on the Weibull-Gnedenko distributionBorovikov, S. M.; Shneiderov, E. N.; Burak, I. A.
2016Models describing the degradation of functional parameters of electronic devices based on the Weibull–Gnedenko distributionBorovikov, S. M.; Shneiderov, E. N.; Burak, I. A.
2016Prediction in Big Data TechnologyBorovikov, S. M.; Shneiderov, E. N.; Tsyrelchuk, M. I.; Dzik, S. S.
2018Reliability Prediction of Electroniс Devices, Considering the Gradual FailuresBorovikov, S. M.; Shneiderov, E. N.
2017Software for predicting the reliability of the electronic system by its technical states set analysis methodTsyrelchuk, N. I.; Dzik, S. S.; Borovikov, S. M.; Tsyrelchuk, I. N.; Kaziuchyts, V. O.; Zhidiliaeva, N. I.; Shneiderov, E. N.
2018Алгоритм связывания пересекающихся стен в единую конструкциюЯнович, Е. С.; Берашевич, П. А.; Шнейдеров, Е. Н.; Терешкова, А. С.; Боровиков, С. М.; Shneiderov, E. N.; Borovikov, S. M.
2017Анализ результатов испытаний стабилизаторов напряжения на длительную наработкуВолошина, М. К.; Терешкова, А. С.; Шнейдеров, Е. Н.; Боровиков, С. М.; Shneiderov, E. N.; Borovikov, S. M.
2016Математическая модель деградации функционального параметра изделий электронной техникиДик, С. К.; Цырельчук, И. Н.; Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Borovikov, S. M.; Shneiderov, E. N.
2018Расчёт эффективности системы видеонаблюденияБоровиков, С. М.; Горбаль, М. М.; Берашевич, П. А.; Шнейдеров, Е. Н.; Терешкова, А. С.; Borovikov, S. M.; Shneiderov, E. N.