Skip navigation
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/11058
Название: Влияние дефектов на электронные свойства структур из слоистых дихалькогенидов тугоплавких металлов
Другие названия: The influence of defects on the electronic properties of structures of layered dichalcogenides of refractory metals
Авторы: Кривошеева, А. В.
Шапошников, В. Л.
Алексеев, А. Ю.
Ключевые слова: доклады БГУИР;двумерные кристаллы;дихалькогениды тугоплавких металлов;электронная структура;примесь замещения;вакансия;two-dimensional crystals;dichalcogenides of refractory metals;electronic structure;substitutional impurity;vacancy
Дата публикации: 2016
Издательство: БГУИР
Описание: Кривошеева, А. В. Влияние дефектов на электронные свойства структур из слоистых дихалькогенидов тугоплавких металлов / А. В. Кривошеева, В. Л. Шапошников, А. Ю. Алексеев // Доклады БГУИР. – 2016. – № 8 (102). – С. 82 – 88.
Аннотация: Методами из первых принципов проведено компьютерное моделирование электронных спектров гетероструктур, сформированных из отдельных слоев двумерных кристаллов MoS2, WS2, WSe2 и MoSe2. Предложены два варианта взаимного расположения слоев. Исследована модификация свойств таких гетероструктур в зависимости от наличия в них примесей и дефектов.
Аннотация на другом языке: Computer modeling of the electronic structure of heterostructures made of individual layers of two- dimensional crystals of MoS2, WS2, WSe2 and MoSe2 is performed by means of first-principles methods. Two variants of the mutual arrangement of the layers of two-dimensional crystals are suggested. Properties of such heterostructures in the presence of impurities and defects are investigated.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/11058
Располагается в коллекциях:№8 (102)

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Shaposhnikov_Vliyaniye.PDF879.8 kBAdobe PDFОткрыть
Показать полное описание Просмотр статистики Google Scholar

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.