https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/13162| Название: | Основные механизмы повреждения микроконтроллеров вследствие влияния электростатических разрядов |
| Другие названия: | Major damage mechanisms microcontrollers due to the Influence of electrostatic discharges |
| Авторы: | Пискун, Г. А. Алексеев, В. Ф. Брылева, О. А. |
| Ключевые слова: | публикации ученых;микроконтроллер;электростатический разряд;microcontroller;static discharge |
| Дата публикации: | 2013 |
| Издательство: | Белорусско-Российский университет |
| Описание: | Пискун, Г. А. Основные механизмы повреждения микроконтроллеров вследствие влияния электростатических разрядов / Г. А. Пискун, В. Ф. Алексеев, О. А. Брылева // Вестник Белорусско-Российского университета. - 2013. - №2 (39). - С. 130-137 |
| Аннотация: | Представлена классификация основных механизмов повреждения современных типов микроконтроллеров вследствие воздействия разрядов статического электричества. Впервые проведена систематизация электростатических разрядов по типу воздействия и механизму влияния на оборудование. Приведена градация разрядов по степени повреждения и области выявления разрушения. |
| Аннотация на другом языке: | In this paper presented the classification of the main types of damage mechanisms of modern microcontrollers from static electricity. First time it’s developed system-assisted electrostatic discharges by type of impact and the mechanism of influence to electronic devices. See grading categories according to the degree of damage and the identification places of the destruction. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/13162 |
| Располагается в коллекциях: | Публикации в изданиях Республики Беларусь |
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Bryleva_Major.pdf | 596.53 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.