https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34333| Название: | Экспрессный контроль надежности подзатворного диэлектрика интегральных микросхем по величине пробивного напряжения при разных скоростях развертки |
| Авторы: | Солодуха, В. А. Шведов, С. В. Ковальчук, Н. С. Чигирь, Г. Г. Петлицкий, А. Н. |
| Ключевые слова: | публикации ученых;материалы конференций;подзатворный диэлектрик;пробивное напряжение;надежность |
| Дата публикации: | 2018 |
| Издательство: | Издательский центр «Политехпериодика» |
| Описание: | Экспрессный контроль надежности подзатворного диэлектрика интегральных микросхем по величине пробивного напряжения при разных скоростях развертки / В. А. Солодуха [и др.] // Современные информационные и электронные технологии: сборник трудов 19-ой Международной научно-практической конференции (СИЭТ-2018), Одесса, 28 мая - 01 июня 2018 г. - Одесса, 2018. - С. 81 - 82. |
| Аннотация: | Предложена модель оценки показателей надежности подзатворных диэлектриков по результатам испытаний тестовых МДП-структур путем подачи на затвор ступенчато-нарастающего напряжения до фиксации момента пробоя структуры при разных скоростях развертки. На основе модели реализован экспрессный контроль для оперативного выявления потенциально ненадежной продукции и поддержания серийного производства интегральных микросхем на требуемом уровне. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34333 |
| Располагается в коллекциях: | Публикации в зарубежных изданиях |
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Solodukha_Ekspressniy.pdf | 220.53 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.