https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34842| Название: | Поиск экстремальных областей полутоновых изображений на основе выращиваемых масок |
| Авторы: | Нгуен, А. Т. Цветков, В. Ю. |
| Ключевые слова: | материалы конференций;поиск локальных экстремумов;выращиваемые маски;выращивание областей |
| Дата публикации: | 2019 |
| Издательство: | БГУИР |
| Описание: | Нгуен, А. Т. Поиск экстремальных областей полутоновых изображений на основе выращиваемых масок / А. Т. Нгуен, В. Ю. Цветков // BIG DATA and Advanced Analytics = BIG DATA и анализ высокого уровня : сборник материалов V Международной научно-практической конференции, Минск, 13–14 марта 2019 г. В 2 ч. Ч. 2 / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники; редкол. : В. А. Богуш [и др.]. – Минск, 2019. – С. 150 – 156. |
| Аннотация: | Предложен алгоритм поиска экстремальных областей полутоновых изображений на основе выращиваемых масок. Показано, что алгоритм позволяет обнаруживать не только однопиксельные но и многопиксельные экстремумы. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34842 |
| Располагается в коллекциях: | BIG DATA and Advanced Analytics = BIG DATA и анализ высокого уровня : материалы конференции (2019) |
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Nguyen_Poisk.PDF | 780.7 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.