https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34999| Название: | Использование атомного силового микроскопа для исследования p-n-переходов |
| Другие названия: | Use of atomic force microscope for research p-n-junction |
| Авторы: | Циркунова, Н. Г. Соловьев, Я. А. Борисенко, В. Е. |
| Ключевые слова: | доклады БГУИР;атомно-силовая микроскопия;p-n-переход;параметры поверхности |
| Дата публикации: | 2010 |
| Издательство: | БГУИР |
| Описание: | Циркунова, Н. Г. Использование атомного силового микроскопа для исследования p-n-переходов / Н. Г. Циркунова, Я. А. Соловьев, В. Е. Борисенко // Доклады БГУИР. - 2010. - № 4 (50). - С. 37 - 42. |
| Аннотация: | Показана возможность использования различных методик атомно-силовой микроскопии для исследования p-n-переходов. Показано влияние амплитуды колебания зонда на разрешение метода фазового контраста при получении изображения, а также влияние обработки на структуру и свойства поверхности p-n-переходов. |
| Аннотация на другом языке: | The possibility to use different methods for identification and analysis of p-n-junctions with atomic force microscopy is shown. Vibration amplitude of the probe and surface treatments has been observed to influence the resolution of the phase contrast method. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34999 |
| Располагается в коллекциях: | №4 (50) |
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Tsirkunova_Use.PDF | 658.17 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.