Skip navigation
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/6873
Название: Thin-Film Capacitor Based on the Strontium Titanate Formed by the Sol Gel Technique
Авторы: Anaraki, H.
Gaponenko, N. V.
Rudenko, M. V.
Kolos, V. V.
Petlitskii, A. N.
Turtsevich, A.S.
Ключевые слова: публикации ученых;Capacitors;Dielectric losses;Film preparation;Sol – gel process;Sol – gels;Statistics;Strontium;Strontium titanates;Thin film circuits;Titanium compounds
Дата публикации: 2015
Описание: Thin-Film Capacitor Based on the Strontium Titanate Formed by the Sol Gel Technique / H. Аnaraki [and others] // Russian Microelectronics . – 2015. – Vol. 44, No. 6. – P. 425 – 429.
Аннотация: A thin-film ferroelectric capacitor was produced on a silicon substrate. A multilayer strontium titanate film of 280 nm thickness is the base of the capacitor. This film was made by the sol gel technique at the annealing temperature of 750C. The bottom electrode was produced from platinum and the upper one was produced from nickel. The mean value of the dielectric constant is 153 and the standard deviation is 12. The mean value of the dielectric loss tangent is 0.06 and the standard deviation is 0.01.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/6873
Располагается в коллекциях:Публикации в зарубежных изданиях

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Thin.pdf314.8 kBAdobe PDFОткрыть
Показать полное описание Просмотр статистики Google Scholar

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.