Skip navigation

Browsing by Author Боровиков, С. М.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
 
Showing results 21 to 40 of 199 < previous   next >
Issue DateTitleAuthor(s)
2021Возможный подход к оценке эффективности дистанционных форм обучения студентовБоровиков, С. М.; Хорошко, В. В.; Казючиц, В. О.; Borovikov, S. M.
2019Временные отказы микропроцессорных устройств систем безопасности и оценка вероятности их возникновенияМайоров, Л. В.; Боровиков, С. М.
2007Выбор параметров электрического режима в качестве имитационных факторов при прогнозировании постепенных отказов биполярных транзисторовБоровиков, С. М.; Бересневич, А. И.; Шалак, А. В.; Будник, А. В.
2005Выбор имитационных воздействий в задачах прогнозирования постепенных отказов полупроводниковых приборовБересневич, А. И.; Боровиков, С. М.
2021Выбор имитационных факторов для моделирования постепенных отказов биполярных транзисторов большой мощностиКалита, Е. В.; Бересневич, А. И.; Боровиков, С. М.; Borovikov, S. M.
2021Выбор информативных параметров для прогнозирования индивидуальной надежности полупроводниковых приборовКазючиц, В. О.; Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.
2014Выбор показателя качества функционирования электронной системы медицинского назначенияДик, С. К.; Боровиков, С. М.; Цырельчук, И. Н.; Лихачевский, Д. В.
2006Достоверность прогнозирования функциональных параметров полупроводниковых приборов методом имитационных воздействийБоровиков, С. М.; Бересневич, А. И.; Шалак, А. В.
2020Индивидуальное прогнозирование надежности биполярных транзисторов с использованием электрического напряжения в качестве имитационного фактораБоровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Бересневич, А. И.; Казючиц, В. О.
2021Индивидуальное прогнозирование надежности транзисторов большой мощности для электронных устройств медицинского назначенияБоровиков, С. М.; Казючиц, В. О.
2007Инженерно-психологический анализ панелей управления РЭС : метод. пособие по дисциплине «Инж. психология» для студентов специальностей «Моделирование и компьютер. проектирование РЭС», «Техн. обеспечение безопасности» заоч. формы обученияАлефиренко, В. М.; Боровиков, С. М.
2017Интеграция в систему «АРИОН-плюс» модулей оценки надёжности и эффективности функционирования технических системКазючиц, В. О.; Дик, С. С.; Боровиков, С. М.; Будник, А. В.; Borovikov, S. M.
2017Интегрирование в систему АРИОН–плюс учебного программного средства для оценкиэффективности функционирования электронной системыДик, С. С.; Боровиков, С. М.; Будник, А. В.; Казючиц, В. О.
2013Интервальный прогноз деградации электрических параметров изделий электронной техникиБоровиков, С. М.
2019Информационная модель прогнозирования надёжности элементов для аппаратуры систем телекоммуникацийБоровиков, С. М.; Будник, А. В.; Borovikov, S. M.
2011Использование распределения Вейбулла для прогнозирования параметрической надежности электронной техникиБоровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.
2016Использование информационных технологий в учебном процессе специальности «электронные системы безопасности»Цырельчук, И. Н.; Боровиков, С. М.; Дик, С. К.; Лихачевский, Д. В.
2022Использование ионного травления металла для улучшения адгезии DLC-покрытий, получаемых методом HiPIMSПигаль, Р. В.; Боровиков, С. М.; Лагуцкий, И. А.; Терещук, О. И.
2005Использование параметров электрического режима биполярных транзисторов в качестве имитационных факторовБересневич, А. И.; Боровиков, С. М.
2023Использование программно-информационного комплекса Арион в it-образовательной средеБоровиков, С. М.; Дик, С. К.