Skip navigation

Browsing by Subject индивидуальное прогнозирование

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
 
Showing results 1 to 12 of 12
Issue DateTitleAuthor(s)
2019Автоматизация процедуры индивидуального прогнозирования надежности полупроводниковых приборовБоровиков, С. М.; Будник, А. В.; Казючиц, В. О.
2016Индивидуальное прогнозирование качества и технического состояния средств медицинской электроники методом пороговой логикиСобчук, Н. С.; Высоцкий, О. П.
2021Индивидуальное прогнозирование надежности транзисторов большой мощности для электронных устройств медицинского назначенияБоровиков, С. М.; Казючиц, В. О.
2021Корреляционный анализ в решении задачи поиска информативных параметров транзисторов большой мощностиКазючиц, В. О.; Шнейдеров, Е. Н.
2022Метод прогнозирования теплового сопротивления переход-корпус мощных полупроводниковых приборов по косвенным электрическим параметрамКазючиц, В. О.; Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.
2010Оценка ошибок прогнозирования параметрической надёжности изделий электронной техникиБоровиков, С. М.; Бересневич, А. И.; Шалак, А. В.; Шнейдеров, Е. Н.
2020Поиск информативных параметров для прогнозирования индивидуальной надёжности транзисторов большой мощности и отбора высоконадёжных экземпляровКазючиц, В. О.
2021Поиск информативных параметров как одна из задач процедуры индивидуального прогнозирования надежности полупроводниковых приборовКазючиц, В. О.; Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.
2001Прогнозирование надёжности биполярных транзисторов с использованием принципов пороговой логики методом троичного преобразования информативных параметровСтасюк, Д. М.
2018Прогнозирование параметрической надёжности биполярных транзисторов для аппаратуры связи длительного функционированияЦырельчук, Н. И.; Боровиков, С. М.; Будник, А. В.; Бересневич, А. И.
2016Программный пакет для индивидуального прогнозирования качества и технического состояния средств медицинской электроники методом пороговой логикиСобчук, Н. С.; Высоцкий, О. П.
2020Технологии Big Data при анализе результатов ускоренных испытаний полупроводниковых приборов на надёжностьКазючиц, В. О.; Боровиков, С. М.