Skip navigation

Browsing by Subject биполярные транзисторы

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
 
Showing results 1 to 8 of 8
Issue DateTitleAuthor(s)
2018Дифференциальный метод термокоррекции характеристик униполярных структурЗеленко, М. А.
2013Закономерности деградации функциональных параметров изделий электронной техникиШнейдеров, Е. Н.
2013Интервальный прогноз деградации электрических параметров изделий электронной техникиБоровиков, С. М.
2011Использование распределения Вейбулла для прогнозирования параметрической надежности электронной техникиБоровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.
2013Критерий стабильности термоэлектрической модели мощных биполярных транзисторовГончарова, Н. А.; Колосницын, Б. С.
2013Методика индивидуального прогнозирования постепенных отказов изделий электронной техники методом имитационных воздействийБоровиков, С. М.
2022Прогнозирование надежности биполярных транзисторов большой мощности для электронных средств защиты информации длительного функционированияКалита, Е. В.; Бересневич, А. И.; Боровиков, С. М.
2013Статистические закономерности между деградацией параметров изделий электроники и их изменениями в условиях действия имитационных факторовБересневич, А. И.