Skip navigation

Browsing by Subject биполярные транзисторы

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
 
Showing results 3 to 8 of 8 < previous 
Issue DateTitleAuthor(s)
2013Интервальный прогноз деградации электрических параметров изделий электронной техникиБоровиков, С. М.
2011Использование распределения Вейбулла для прогнозирования параметрической надежности электронной техникиБоровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.
2013Критерий стабильности термоэлектрической модели мощных биполярных транзисторовГончарова, Н. А.; Колосницын, Б. С.
2013Методика индивидуального прогнозирования постепенных отказов изделий электронной техники методом имитационных воздействийБоровиков, С. М.
2022Прогнозирование надежности биполярных транзисторов большой мощности для электронных средств защиты информации длительного функционированияКалита, Е. В.; Бересневич, А. И.; Боровиков, С. М.
2013Статистические закономерности между деградацией параметров изделий электроники и их изменениями в условиях действия имитационных факторовБересневич, А. И.