Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1709
Title: Новый метод управления профилем боковых стенок фоторезистов
Other Titles: An advanced sidewalls profile control method for thick photoresist
Authors: Агейченко, А. С.
Матюшков, В. Е.
Keywords: доклады БГУИР;фотолитография;фоторезист;проекционный объектив;апертурная диафрагма
Issue Date: 2011
Publisher: БГУИР
Citation: Агейченко, А. С. Новый метод управления профилем боковых стенок фоторезистов / А. С. Агейченко, В. Е. Матюшков // Доклады БГУИР. - 2011. - № 1 (55). - С. 49 - 54.
Abstract: Рассмотрены способы управления профилем боковых стенок проявленных фоторезистов повышенной толщины, используемых в технологии передовой упаковки микросхем методом бампинга перевернутого чипа и МЭМС.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1709
Appears in Collections:№1 (55)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Ageychenko_Noviy.PDF620.24 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.