Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/28366
Title: Применение метода атомно – силовой микроскопии для исследования морфологии поверхности тонких пленок, сформированных методом ионно – ассистированного осаждения
Authors: Ташлыкова-Бушкевич, И. И.
Яковенко, Ю. С.
Ташлыков, И. С.
Барайшук, С. М.
Михалкович, О. М.
Keywords: публикации ученых;морфология;шероховатость;тонкие пленки;ионно-ассистированное осаждение
Issue Date: 2016
Publisher: ИТиМО НАН Беларуси
Citation: Применение метода атомно – силовой микроскопии для исследования морфологии поверхности тонких пленок, сформированных методом ионно – ассистированного осаждения / И. И. Ташлыкова-Бушкевич и др. // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии: материалы XII Междунар. науч. Конф. – Минск: ИТиМО НАН Беларуси, 2016. – С. 94 – 98.
Abstract: В работе представлены результаты исследования топографии поверхности тонких пленок состава Al – 1,0 ат.% Cr, Al – 1,5 ат.% Fe, сформированных ионно – ассистированным осаждением на стеклянных подложках. Получены данные по шероховатости исследованных поверхностей. Обсуждается процесс формирования пленок.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/28366
Appears in Collections:Публикации в изданиях Республики Беларусь

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Yakovenko_Primeneniye.PDF942.94 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.