Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30886
Title: Использование кондуктивной схемы испытаний реакции полупроводниковых приборов на внешний ЭМИ
Authors: Алексеев, В. Ф.
Журавлёв, В. И.
Бруцкий-Стемпковский, В. П.
Keywords: публикации ученых
полупроводниковый прибор
электромагнитный импульс
источники помех
Issue Date: 2005
Publisher: Белорусский инженерная академия
Citation: Алексеев, В. Ф. Использование кондуктивной схемы испытаний реакции полупроводниковых приборов на внешний ЭМИ / В. Ф. Алексеев, В. И. Журавлёв, В. П. Бруцкий-Стемпковский // Известия Белорусской инженерной академии, Минск. – 2005. – № 1 (19)/1. – С. 28–31.
Abstract: Описывается состав испытательного стенда и назначение его элементов при кондуктивном методе испытаний реакции полупроводниковых приборов на воздействие мощных электромагнитных импульсов (ЭМИ). Приводится методика получения экспериментальных данных для определения времени отказа полупроводникового прибора вследствие тепловой нестационарности.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30886
Appears in Collections:Публикации в изданиях Республики Беларусь

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Alexeev_Using.pdf386,15 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.