Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/31852
Title: Аналитическая оценка структурных особенностей тонких металлических пленок, формируемых методом ионно-плазменного напыления
Authors: Маргун, Ю. С.
Поваляева, Н. И.
Степанцов, Е. В.
Макаревич, Я. С.
Петрушкевич, В. Р.
Keywords: материалы конференций;тонкие металлические пленки;ионно-плазменное напыление
Issue Date: 2018
Publisher: БГУИР
Citation: Аналитическая оценка структурных особенностей тонких металлических пленок, формируемых методом ионно-плазменного напыления / Ю. С. Маргун и другие // Компьютерные системы и сети: материалы 54-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 23 – 27 апреля 2018 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2018. – С. 142 – 144.
Abstract: Исследована микроструктура поверхности тонких металлических пленок Al и его бинарных сплавов с хромом и железом, сформированных ионно-ассистированным осаждением на стеклянных подложках, методом растровой электронной микроскопии (РЭМ). Проведен анализ полученных РЭМ изображений методом случайных секущих.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/31852
Appears in Collections:Компьютерные системы и сети : материалы 54-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2018)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Margun_Analiticheskaya.pdf638.08 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.