| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Шнейдеров, Е. Н. | - |
| dc.date.accessioned | 2019-01-14T12:17:23Z | - |
| dc.date.available | 2019-01-14T12:17:23Z | - |
| dc.date.issued | 2018 | - |
| dc.identifier.citation | Шнейдеров, Е. Н. Прогнозирование надёжности полупроводниковых приборов большой мощности по моделям деградации их функциональных параметров : автореф. дисс. ... кандидата технических наук : 05.27.01 / Е. Н. Шнейдеров ; науч. рук. С. М. Боровиков. - Минск : БГУИР, 2018. - 25 с. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34179 | - |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | авторефераты диссертаций | ru_RU |
| dc.subject | мощные полупроводниковые приборы | ru_RU |
| dc.subject | постепенные (деградационные) отказы | ru_RU |
| dc.subject | модель деградации | ru_RU |
| dc.title | Прогнозирование надёжности полупроводниковых приборов большой мощности по моделям деградации их функциональных параметров | ru_RU |
| dc.type | Автореферат | ru_RU |
| Appears in Collections: | 05.27.01 Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах
|
