https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/358| Title: | Испытание и исследование полупроводниковых приборов и элементов интегральных схем : лаборатор. практикум по курсу «Полупроводниковые приборы и элементы интегр. микросхем» для студентов специальностей 1-41 01 02 «Микро- и наноэлектр. технологии и системы», 1-41 01 03 «Квант. информ. системы» всех форм обучения |
| Authors: | Гранько, С. В. Дворников, О. В. |
| Keywords: | учебно-методические пособия;измерительное оборудование;лабораторные работы;интегральные схемы |
| Issue Date: | 2011 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Гранько, С. В. Испытание и исследование полупроводниковых приборов и элементов интегральных схем : лаборатор. практикум по курсу «Полупроводниковые приборы и элементы интегр. микросхем» для студентов специальностей 1-41 01 02 «Микро- и наноэлектр. технологии и системы», 1-41 01 03 «Квант. информ. системы» всех форм обучения / С. В. Гранько, О. В. Дворников. – Минск : БГУИР, 2011. – 43 с. : ил. |
| Abstract: | В лабораторном практикуме обобщены основные сведения о процессах измерения параметров полупроводниковых приборов. Состоит из четырех лабораторных работ. В каждой даны описания методик измерения параметров полупроводниковых приборов с использованием различных типов измерительного оборудования. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по специальностям «Микро- и наноэлектронные технологии и системы», «Квантовые информационные системы». |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/358 |
| ISBN: | 978-985-488-550-6. |
| Appears in Collections: | Кафедра микро- и наноэлектроники |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Granko_ispit.pdf | 7.26 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.