Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/358
Title: Испытание и исследование полупроводниковых приборов и элементов интегральных схем : лаборатор. практикум по курсу «Полупроводниковые приборы и элементы интегр. микросхем» для студентов специальностей 1-41 01 02 «Микро- и наноэлектр. технологии и системы», 1-41 01 03 «Квант. информ. системы» всех форм обучения
Authors: Гранько, С. В.
Дворников, О. В.
Keywords: учебно-методические пособия;измерительное оборудование;лабораторные работы;интегральные схемы
Issue Date: 2011
Publisher: БГУИР
Citation: Гранько, С. В. Испытание и исследование полупроводниковых приборов и элементов интегральных схем : лаборатор. практикум по курсу «Полупроводниковые приборы и элементы интегр. микросхем» для студентов специальностей 1-41 01 02 «Микро- и наноэлектр. технологии и системы», 1-41 01 03 «Квант. информ. системы» всех форм обучения / С. В. Гранько, О. В. Дворников. – Минск : БГУИР, 2011. – 43 с. : ил.
Abstract: В лабораторном практикуме обобщены основные сведения о процессах измерения параметров полупроводниковых приборов. Состоит из четырех лабораторных работ. В каждой даны описания методик измерения параметров полупроводниковых приборов с использованием различных типов измерительного оборудования. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по специальностям «Микро- и наноэлектронные технологии и системы», «Квантовые информационные системы».
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/358
ISBN: 978-985-488-550-6.
Appears in Collections:Кафедра микро- и наноэлектроники

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Granko_ispit.pdf7.26 MBAdobe PDFView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.