| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Гранько, С. В. | - |
| dc.contributor.author | Дворников, О. В. | - |
| dc.date.accessioned | 2014-07-10T10:59:46Z | - |
| dc.date.accessioned | 2017-07-17T07:47:42Z | - |
| dc.date.available | 2014-07-10T10:59:46Z | - |
| dc.date.available | 2017-07-17T07:47:42Z | - |
| dc.date.issued | 2011 | - |
| dc.identifier.citation | Гранько, С. В. Испытание и исследование полупроводниковых приборов и элементов интегральных схем : лаборатор. практикум по курсу «Полупроводниковые приборы и элементы интегр. микросхем» для студентов специальностей 1-41 01 02 «Микро- и наноэлектр. технологии и системы», 1-41 01 03 «Квант. информ. системы» всех форм обучения / С. В. Гранько, О. В. Дворников. – Минск : БГУИР, 2011. – 43 с. : ил. | ru_RU |
| dc.identifier.isbn | 978-985-488-550-6. | - |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/358 | - |
| dc.description.abstract | В лабораторном практикуме обобщены основные сведения о процессах измерения параметров полупроводниковых приборов. Состоит из четырех лабораторных работ. В каждой даны описания методик измерения параметров полупроводниковых приборов с использованием различных типов измерительного оборудования.
Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по специальностям «Микро- и наноэлектронные технологии и системы», «Квантовые информационные системы». | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | учебно-методические пособия | ru_RU |
| dc.subject | измерительное оборудование | ru_RU |
| dc.subject | лабораторные работы | ru_RU |
| dc.subject | интегральные схемы | - |
| dc.title | Испытание и исследование полупроводниковых приборов и элементов интегральных схем : лаборатор. практикум по курсу «Полупроводниковые приборы и элементы интегр. микросхем» для студентов специальностей 1-41 01 02 «Микро- и наноэлектр. технологии и системы», 1-41 01 03 «Квант. информ. системы» всех форм обучения | ru_RU |
| dc.type | Book | ru_RU |
| Appears in Collections: | Кафедра микро- и наноэлектроники
|
