Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/358
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorГранько, С. В.-
dc.contributor.authorДворников, О. В.-
dc.date.accessioned2014-07-10T10:59:46Z-
dc.date.accessioned2017-07-17T07:47:42Z-
dc.date.available2014-07-10T10:59:46Z-
dc.date.available2017-07-17T07:47:42Z-
dc.date.issued2011-
dc.identifier.citationГранько, С. В. Испытание и исследование полупроводниковых приборов и элементов интегральных схем : лаборатор. практикум по курсу «Полупроводниковые приборы и элементы интегр. микросхем» для студентов специальностей 1-41 01 02 «Микро- и наноэлектр. технологии и системы», 1-41 01 03 «Квант. информ. системы» всех форм обучения / С. В. Гранько, О. В. Дворников. – Минск : БГУИР, 2011. – 43 с. : ил.ru_RU
dc.identifier.isbn978-985-488-550-6-
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/358-
dc.description.abstractВ лабораторном практикуме обобщены основные сведения о процессах измерения параметров полупроводниковых приборов. Состоит из четырех лабораторных работ. В каждой даны описания методик измерения параметров полупроводниковых приборов с использованием различных типов измерительного оборудования. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по специальностям «Микро- и наноэлектронные технологии и системы», «Квантовые информационные системы».ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectучебно-методические пособияru_RU
dc.subjectизмерительное оборудованиеru_RU
dc.subjectлабораторные работыru_RU
dc.subjectинтегральные схемы-
dc.titleИспытание и исследование полупроводниковых приборов и элементов интегральных схем : лаборатор. практикум по курсу «Полупроводниковые приборы и элементы интегр. микросхем» для студентов специальностей 1-41 01 02 «Микро- и наноэлектр. технологии и системы», 1-41 01 03 «Квант. информ. системы» всех форм обученияru_RU
dc.typeBookru_RU
Appears in Collections:Кафедра микро- и наноэлектроники

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Granko_ispit.pdf7.26 MBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.