Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/35821
Title: Исследование деградации тока-стока n-МОП-транзисторов под влиянием «горячих» носителей
Authors: Загорский, А. В.
Keywords: авторефераты диссертаций
n- МОП-транзисторы
интегральные микросхемы
Issue Date: 2019
Publisher: БГУИР
Citation: Загорский, А. В. Исследование деградации тока-стока n-МОП-транзисторов под влиянием «горячих» носителей : автореф. дисс. ... магистра техники и технологий : 1- 39 81 01 / А. В. Загорский; науч. рук. Г. Г. Чигирь. - Минск : БГУИР, 2019. – 16 с.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/35821
Appears in Collections:1-39 81 01 Компьютерные технологии проектирования электронных систем

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
m_avt_Zagorskii.pdf701,59 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.