Skip navigation
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/45847
Название: The proton flux influence on electrical characteristics of a dual-channel hemt based on GaAs
Авторы: Lovshenko, I.
Voronov, A.
Roshchenko, P. S.
Ternov, R.
Stempitsky, V. R.
Ключевые слова: материалы конференций;conference proceedings;the proton flux;experimental data
Дата публикации: 2021
Издательство: БГУИР
Описание: The proton flux influence on electrical characteristics of a dual-channel hemt based on GaAs / I. Lovshenko [et al.] // Nano-Desing, Tehnology, Computer Simulations = Нанопроектирование, технология, компьютерное моделирование (NDTCS-2021) : тезисы докладов XIX Международного симпозиума, Минск, 28–29 октября 2021 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: В. А. Богуш [и др.]. – Минск, 2021. – P. 66–68.
Аннотация: The model of the dependence of NIEL on the proton energy with different values of threshold energy of defect formation for GaAs and AlGaAs, that are described in the literature and comply with the latest theoretical and experimental data, has been developed.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/45847
Располагается в коллекциях:NDTCS 2021

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Lovshenko_The.pdf602.05 kBAdobe PDFОткрыть
Показать полное описание Просмотр статистики Google Scholar

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.