Skip navigation

Browsing by Author Свирид, В. Л.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
 
Showing results 21 to 32 of 32 < previous 
Issue DateTitleAuthor(s)
1981Устройство для измерения добротности и емкости варикаповСвирид, В. Л.
1976Устройство для измерения добротности резонансных контуровСвирид, В. Л.
1980Устройство для измерения координат термостабильной точки полевых транзисторовСвирид, В. Л.
1977Устройство для измерения напряжения отсечки полевых транзисторовСвирид, В. Л.
1983Устройство для измерения параметров аппроксимации характеристик нелинейных элементовСвирид, В. Л.
1981Устройство для измерения параметров варикаповСвирид, В. Л.
1984Устройство для измерения параметров резонансных контуровСвирид, В. Л.
1979Устройство для измерения полных проводимостей и добротности нелинейных элементовСвирид, В. Л.
1980Устройство для измерения температурных коэффициентов составляющих дрейфа параметров полевых транзисторовСвирид, В. Л.
1986Устройство для коррекции характеристик нелинейных элементовСвирид, В. Л.
1977Устройство температурной коррекции характеристик полевых транзисторовСвирид, В. Л.
2022Формирование высших производных характеристик нелинейных элементовСвирид, В. Л.