Skip navigation

Browsing by Author Алексеев, В. Ф.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я or enter first few letters:  
Showing results 1 to 20 of 131  next >
Issue DateTitleAuthor(s)
2018Approaches to the optimization of the electronic module using the research of transformation of energy of mechanical exposureAlexeev, V. F.; Piskun, G. A.; Likhacheuski, D. V.; Алексеев, В. Ф.; Пискун, Г. А.; Лихачевский, Д. В.
2018End to end learning for a driving simulatorAlexeev, V. F.; Staravoitau, A. I.; Piskun, G. A.; Likhacheuski, D. V.; Алексеев, В. Ф.; Старовойтов, А. И.; Пискун, Г. А.; Лихачевский, Д. В.
2011IP-телефония как инструмент в экономике предприятияХлус, Д. С.; Алексеев, В. Ф.
2006Modeling of nonstationary heating of semiconductor structures under HEMP actions with short pulse durationAlexeev, V. F.; Zhuravliov, V. I.; Алексеев, В. Ф.; Журавлев, В. И.
2020Simulation of the complex impact of thermal and shock loads on electronic modulesBavbel, E. I.; Alekseev, V. F.; Piskun, G. A.; Бавбель, Е. И.; Алексеев, В. Ф.; Пискун, Г. А.
2018The Impact of ESD on MicrocontrollersPiskun, G. A.; Alexeev, V. F.; Avakow, S. M.; Matyushkov, V. E.; Titko, D. S.; Алексеев, В. Ф.; Пискун, Г. А.; Аваков, С. М.; Матюшков, В. Е.; Титко, Д. С.
2003Thermal conductivity influence on failures of semiconductor IСs under powerful EMP actionZhuravliov, V. I.; Alexeev, V. F.; Журавлев, В. И.; Алексеев, В. Ф.
2020Thermal processes in the metallized tracks during the flow of current discharge pulseEvdokimova, I. A.; Piskun, G. A.; Alekseev, V. F.; Евдокимова, И. А.; Пискун, Г. А.; Алексеев, В. Ф.
2017Автоматизация тестирования web-приложений с использованием Selenium WebDriverЛось, Н. А.; Ярошенко, А. Л.; Алексеев, В. Ф.
2014Автоматизация учетных и управленческих решений деятельности организации на базе платформы 1С:ПредприятиеАлексеев, В. Ф.; Пискун, Г. А.; Мишуто, В. А.; Харитончик, Е. С.
2008Анализ PDIF-формата данных в САПР P-CADАлексеев, В. Ф.; Журавлев, В. И.; Валуев, В. А.; Колбун, В. С.
2020Анализ деятельности университета и факультета как объекта автоматизацииАлексеев, В. Ф.; Лихаческий, Д. В.; Шаталова, В. В.
2006Анализ физико-химических процессов, определяющих отказы интегральных схемМаклюк, В. В.; Божко, Р. А.; Алексеев, В. Ф.; Савосько, А. Н.; Эль-Хадад Весам Мохамед
2020Анализ целостности цифрового сигнала на печатной плате с помощью HyperLynxАлексеев, В. Ф.; Горбач, А. П.; Хуторная, Е. В.
2021Аналитика IoT данных c использованием сервиса AWS IoT analytics при исследовании загазованности окружающей средыКлимов, К. О.; Пискун, Г. А.; Лихачевский, Д. В.; Алексеев, В. Ф.; Шаталова, В. В.; Klimov, K. O.; Piskun, G. A.; Likhachevsky, D. M.; Alekseev, V. F.; Shatalova, V. V.
2021Архитектура больших данныхМалиновская, В. В.; Алексеев, В. Ф.; Malinovskaya, V. V.; Alekseev, V. F.
2018Беспроводная передача данных с учетом автоматической адаптации к распространению радиоволнАлексеев, В. Ф.; Пискун, Г. А.; Грудковский, С. А.; Стрельцова, А. А.
2012Влияние разрядов статического электричества на программное обеспечение, инсталлированное во встроенную flash-память микроконтроллеровПискун, Г. А.; Алексеев, В. Ф.; Piskun, G. A.; Alexeev, V. F.
2005Влияние свойств границы раздела Si-SiO2 на параметры транзистораАлексеев, В. Ф.; Ковальков, Д. О.
2015Внутренние элементы защиты интегральных схем от воздействия электростатических разрядовБыковский, С. И.; Шинтар, А. В.; Пискун, Г. А.; Алексеев, В. Ф.