Skip navigation

Browsing by Author Бурак, И. А.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я or enter first few letters:  
Showing results 1 to 17 of 17
Issue DateTitleAuthor(s)
2016Models describing the degradation of functional parameters of electronic devices based on the Weibull-Gnedenko distributionBorovikov, S. M.; Shneiderov, E. N.; Burak, I. A.; Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Бурак, И. А.
2016Models describing the degradation of functional parameters of electronic devices based on the Weibull–Gnedenko distributionBorovikov, S. M.; Shneiderov, E. N.; Burak, I. A.; Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Бурак, И. А.
2015Испытания изделий электронной техники на длительную наработкуШнейдеров, Е. Н.; Бурак, И. А.; Бересневич, А. И.; Shneiderov, E. N.
2016Математические модели деградации функциональных параметров изделий электронной техникиШнейдеров, Е. Н.; Бурак, И. А.; Будник, А. В.; Shneiderov, E. N.
2015Методика прогнозирования надёжности изделий электронной техники по постепенным отказамШнейдеров, Е. Н.; Бурак, И. А.; Бересневич, А. И.; Shneiderov, E. N.
2013Модели прогнозирования эксплуатационной интенсивности отказов сложных электрорадиоизделийБурак, И. А.; Шнейдеров, Е. Н.; Бруй, А. А.; Shneiderov, E. N.
2014Моделирование предыстории при прогнозировании постепенных отказов изделий электронной техники методом экстраполяции параметраБурак, И. А.; Боровиков, С. М.; Будник, А. В.; Borovikov, S. M.
2014О замене предыстории параметра изделия электронной техники при его прогнозировании методом экстраполяцииБурак, И. А.; Гришель, Р. П.; Матюшков, В. Е.
2014Получение практических навыков по методам прогнозирования надёжности изделий электронной техникиШнейдеров, Е. Н.; Бурак, И. А.; Боровиков, С. М.; Гришель, Р. П.; Shneiderov, E. N.; Borovikov, S. M.
2011Применение системы АРИОН в ІТ-образовательных средахБоровиков, С. М.; Цырельчук, И. Н.; Шнейдеров, Е. Н.; Бурак, И. А.; Borovikov, S. M.; Shneiderov, E. N.
2016Прогнозирование времени хранения информации после отключения питания для интегральных микросхем энергонезависимой памятиПлебанович, В. И.; Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Бурак, И. А.; Plebanovich, V. I.; Borovikov, S. M.; Shneiderov, E. N.; Burak, I. A.
2014Прогнозирование параметрической надёжности изделий электронной техники по физико-статистическим моделям деградации параметров : отчет о НИР (заключ.)Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Бруй, А. А.; Бурак, И. А.; Borovikov, S. M.; Shneiderov, E. N.
2014Прогнозирование постепенных отказов ИЭТ по реакции функционального параметра на имитационное воздействиеБоровиков, С. М.; Бурак, И. А.; Бересневич, А. И.; Троян, Ф. Д.; Borovikov, S. M.
2013Разработка методики индивидуального прогнозирования постепенных отказов изделий электронной техникиБурак, И. А.; Янцевич, Ю. В.; Бруй, А. А.; Боровиков, С. М.; Borovikov, S. M.
2016Ускоренные испытания биполярных транзисторов на длительную наработкуШнейдеров, Е. Н.; Бурак, И. А.; Бересневич, А. И.; Станюш, И. П.; Хатьков, А. А.; Shneiderov, E. N.
2017Экспериментальное исследование деградации изделий электронной техникиБоровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Плебанович, В. И.; Бересневич, А. И.; Бурак, И. А.; Borovikov, S. M.; Shneiderov, E. N.; Plebanovich, V. I.; Berasnevich, A. I.; Burak, I. A.
2015Экспериментальное исследование деградации функциональных параметров изделий электронной техникиШнейдеров, Е. Н.; Бурак, И. А.; Гилимович, Д. С.; Боровиков, С. М.; Shneiderov, E. N.; Borovikov, S. M.